北京羲和陽(yáng)光科技發(fā)展有限公司
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詳細(xì)摘要： 純水電阻率測(cè)試儀 對(duì)純水的電阻率進(jìn)行測(cè)量，進(jìn)而確定純度是否達(dá)標(biāo)；使用簡(jiǎn)單測(cè)量速度快。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 實(shí)驗(yàn)室用純水制備 滿足硅材料檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室的純水制備需求；水質(zhì)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；出水量可定制。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 250升以上純水制備 硅片的生產(chǎn)離不開純水，硅片的研磨，拋光，化學(xué)腐蝕等各個(gè)環(huán)節(jié)均需純水進(jìn)行清洗，水的純度直接影響著硅產(chǎn)品的質(zhì)量好壞。我公司研發(fā)的250升以上純...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 太陽(yáng)能多晶硅晶片和單晶硅晶片的生產(chǎn)過程涉及到機(jī)械，濕化學(xué)，熱學(xué)和電子物理過程，從硅碇上切割下的晶片，進(jìn)行蝕刻，摻雜。所有這些工藝過程，以及工藝間的晶片搬運(yùn)，都會(huì)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 實(shí)現(xiàn)對(duì)太陽(yáng)能硅塊快速、無(wú)接觸的缺陷檢測(cè)。檢測(cè)的缺陷類型包括： 裂紋和空洞、SiC雜質(zhì)、 微晶聚集結(jié)構(gòu)、金屬沉淀。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-08-03 在線留言
詳細(xì)摘要： XH-MP150A設(shè)備是增強(qiáng)型手動(dòng)分析探針臺(tái)，用于為各種半導(dǎo)體芯片、微波器件等提供一個(gè)光、電參數(shù)測(cè)試、分析的平臺(tái)，可吸附多種規(guī)格的圓片及芯片，并提供可調(diào)測(cè)試針及...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 半自動(dòng)探針臺(tái)與測(cè)試儀配接后，能自動(dòng)完成對(duì)芯片的電參數(shù)測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-12 在線留言
詳細(xì)摘要： XHF-380型熒光分光光度計(jì)的功能強(qiáng)大，可以實(shí)現(xiàn)熒光、磷光和化學(xué)發(fā)光的測(cè)量，同時(shí)具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、光度測(cè)定和三維掃描的功能。儀器采用雙單色儀，凹面衍射光...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 微區(qū)拉曼光譜技術(shù)是將拉曼光譜分析技術(shù)與顯微分析技術(shù)結(jié)合起來(lái)的一種應(yīng)用技術(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-08 在線留言
詳細(xì)摘要： XH-WGH-30A紅外分光光度計(jì)以其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于調(diào)整及測(cè)量、靈敏度高、穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn).特別是在制藥行業(yè)的GMP認(rèn)證中得到廣大用戶的*好評(píng),此是國(guó)家藥典檢測(cè)的...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 紫外可見分光光度計(jì)在有機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、藥品分析、食品檢驗(yàn)、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護(hù)、生命科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域的科研、生產(chǎn)工作中都得到了極其廣泛的應(yīng)用。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-07-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 硅芯電阻率測(cè)試儀是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）*的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-02-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 本儀器專門用于電池片焊條焊接牢固度的拉力測(cè)量。系統(tǒng)機(jī)架*采用金屬結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，以保證系統(tǒng)的牢固性，提供精準(zhǔn)測(cè)量的必要基礎(chǔ)條件。電池片夾板、焊條夾頭、手動(dòng)螺旋控制裝置...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-20 在線留言
詳細(xì)摘要： 薄膜方塊電阻測(cè)試儀 主要用來(lái)測(cè)量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層、導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。它由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架、四探針頭及專業(yè)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 該儀器專門為硅料分選而設(shè)計(jì)，可以快速準(zhǔn)確的測(cè)量PN型、重?fù)健㈦娮杪?。?duì)碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料均可測(cè)量。系統(tǒng)同時(shí)配備三探針探頭、四探針...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 為了滿足在野外對(duì)太陽(yáng)能電池組件/陣列進(jìn)行測(cè)試的要求，我們?cè)O(shè)計(jì)制造了利用自然光源進(jìn)行測(cè)試的太陽(yáng)能電池IV曲線測(cè)試儀，其具有比室內(nèi)模擬測(cè)試準(zhǔn)確，穩(wěn)定，可靠的真實(shí)效果...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-05 在線留言
詳細(xì)摘要： RTM660C采用高精度的厚度及電阻率探頭，配以強(qiáng)大的軟件控制，可以用多種方式進(jìn)行無(wú)接觸式測(cè)量，使得測(cè)試過程變得十分高效。系統(tǒng)采用一體化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 擴(kuò)展電阻測(cè)試儀型號(hào)：進(jìn)口擴(kuò)展電阻法是利用特殊的點(diǎn)接觸金屬探針，沿著樣品的表面 ，以微小的步進(jìn)測(cè)出半導(dǎo)體材料或器件表面的每一點(diǎn)的擴(kuò)展電阻值，由此得到電阻、電阻率和...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 隨著多晶硅，硅片，太陽(yáng)能電池片工藝的不斷發(fā)展與提高，光伏產(chǎn)業(yè)對(duì)硅片及電池片質(zhì)量的檢測(cè)要求越來(lái)越高。本儀器專門用于對(duì)硅片以及太陽(yáng)能電池片的顯微質(zhì)量檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果快...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-30 在線留言
詳細(xì)摘要： The system consists of the measuring head, an electronic rack linked by one stan...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-19 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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