詳細摘要： 原生多晶型號測試儀是一款半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅...
產品型號：HS-PSTT所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
北京合能陽光新能源技術有限公司
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詳細摘要： 原生多晶型號測試儀是一款半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅...
產品型號：HS-PSTT所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統專門用于包括硅材料等半導體晶圓及晶環生產過程中發現晶圓內部的機械隱裂等肉眼無法觀測的內部缺陷，其檢測直徑可達420mm。
產品型號：HS-Phys-IRis所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產中的硅棒硅芯內部的的裂縫、雜質、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器，可大幅提高硅芯生產過程...
產品型號：HS-NIR-SiRod所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體晶片及晶環生產過程中以的分辨率探測晶片和晶環的內部滑移線、內部...
產品型號：HS-phys-SimPLe所在地：北京市更新時間：2022-10-27 在線留言
詳細摘要： 合能陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀（ HS-MPRT-5）是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 屬四探頭電阻率方阻測試儀(HS-MPRT4）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 產品介紹: 我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業的技術及25年的行業經驗，PVE300能夠快速并準確的給出分析數據，是經過市場檢驗的被廣泛應用的...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300型)可以測量硅片厚度、總厚度變化 TTV 、彎曲度，該儀器適用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等幾乎所有...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 合能陽光無接觸少子壽命測試儀(HS-MWR-SIM)，是一款功能強大的，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰...
產品型號：HS-MWR-SIM所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-03 在線留言
詳細摘要： 多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準確度...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-08-02 在線留言
詳細摘要： ■ 鎵為IIIA族元素，原子量為69.72，英文名稱為Gallium,簡稱Ga。質軟，淡藍色光澤。熔點29.78℃。沸點2403℃。具有無毒、不揮發、不燃、不爆...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-14 在線留言
詳細摘要： 合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)功能強大，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰...
產品型號：HS-MWR-2S3）所在地：北京市更新時間：2022-07-12 在線留言
詳細摘要： 硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-11 在線留言
詳細摘要： 合測試儀 - HS-PSRT電阻率型號綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能...
產品型號：所在地：北京市更新時間：2022-07-11 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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