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北京北信科遠儀器有限責任公司
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BX-G102系列針對科研和工業環境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。
產品用途：
BX-G102系列針對科研和工業環境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。
儀器特點：
1. 雙旋轉補償器測量技術：可測量樣品的Muller矩陣的全部16個元素
2. 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型10秒
3. 原子層量級的檢測靈敏度：可以測量單原子層
4. 視頻式樣品對準：準確完成樣品對準，并方便觀察，減小人為誤差
5. 入射角和反射角可以單獨調節：獨立多入射角度結構設計，增強了儀器測量的靈活性。適用于反射、透射、散射樣品的測量場合
6. 一鍵式儀器操作：對于常規操作，只需要鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的操作需求
技術參數：
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