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Amplification近紅外離散放大光子探測(cè)器

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Amplification熱電冷卻InGaAs探測(cè)器可以實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的內(nèi)部放大,具有高增益(>105)、快速響應(yīng)(<0.4ns上升時(shí)間)和極低的過噪聲因子(<1.05)。

詳細(xì)介紹

950-1650nmNIR InGaAs光子探測(cè)器2000個(gè)光子的靈敏動(dòng)態(tài),配備熱電冷卻器

      Amplification熱電冷卻InGaAs探測(cè)器通過技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的內(nèi)部放大,具有高增益(>105)、快速響應(yīng)(<0.4ns上升時(shí)間)和極低的過噪聲因子(<1.05)。該產(chǎn)品采用TO-8封裝,配有熱電冷卻器,環(huán)境溫度為25°C時(shí),可以冷卻到-50°C

近紅外銦鎵砷光子探測(cè)器的TEC性能:

TEC是一款三級(jí)冷卻器,采用高質(zhì)量的散裝BiTe材料制造,符合RoHS規(guī)范,并通過了Telordia GR-468 認(rèn)證。符合RoHS規(guī)范,并通過了Telcordia GR-468認(rèn)證。以下是理想條件下的 TEC 性能參數(shù):

近紅外銦鎵砷探測(cè)器TEC性能數(shù)據(jù)不包括TO封裝和散熱器布置,實(shí)際使用限制冷卻溫度在-50°C至-55°之間。上圖中所示的InGaAs探測(cè)器性能參數(shù)是在散熱和無(wú)負(fù)載條件下獲得的。在TO-8頭部的實(shí)際使用中,應(yīng)仔細(xì)考慮設(shè)計(jì)一個(gè)合適的散熱方案。為了獲得的可靠性,建議在非凝結(jié)環(huán)境下存儲(chǔ)和操作溫度低于85°C。為了盡量減少熱應(yīng)力,應(yīng)使用線性/比例溫度控制或類似的方法,而不是開關(guān)控制方法。

Amplification NIRDAPD TEC近紅外探測(cè)器是一款近紅外離散放大光子探測(cè)器,波長(zhǎng)覆蓋950nm1650nm的近紅外波段。Amplification熱電制冷近紅外探測(cè)器DAPD TO8專為寬帶模擬檢測(cè)低光信號(hào)而設(shè)計(jì),近紅外銦鎵砷探測(cè)器對(duì)NIR模擬檢測(cè)器而言具有無(wú)二的信號(hào)脈沖靈敏度。NIR InGaAs光子探測(cè)器的靈敏度涵蓋了從單個(gè)光子到每脈沖約2000個(gè)光子的寬動(dòng)態(tài)范圍,并且其輸出信號(hào)與檢測(cè)到的光子數(shù)成正比。

Amplification近紅外TEC探測(cè)器DAPD-TO8有兩種不同的有效面積尺寸可供選擇:80µm200µm


Amplification近紅外探測(cè)器的主要特點(diǎn):

-近紅外光譜響應(yīng)從9501650 nm

-快速響應(yīng):上升時(shí)間< 0.4ns

-高增益:在PDE下,G=~100k

  -低噪聲因子:F<1.05

  - TEC冷卻到-50oC

  這表明熱電冷卻InGaAs探測(cè)器可以通過熱電制冷(TEC)技術(shù)冷卻到極低的溫度。在低溫下,Amplification近紅外離散放大光子探測(cè)器的性能可能會(huì)得到提高,因?yàn)闊嵩肼晻?huì)減少。Amplification近紅外探測(cè)器DAPD TO8的輸出信號(hào)相對(duì)于噪聲是非常干凈的,可以提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性。


Amplification近紅外銦鎵砷探測(cè)器的主要應(yīng)用:

       -激光雷達(dá)3D成像

       -激光雷達(dá)和環(huán)境監(jiān)測(cè)

       -光譜學(xué)和儀器

       -量子通信

NIRDAPD TEC近紅外探測(cè)器的規(guī)格:(工作溫度為 -50°C 時(shí))          

參數(shù)

DAPD TO8 series

單位

有效區(qū)域直徑

80

200

μm

頻譜響應(yīng)范圍(λ

950-1650

nm

典型增益 (M)

1x105

-

過量噪聲系數(shù)

1.05

-

光子檢測(cè)效率@1550 納米 (PDE)1

10-20

%

單電子響應(yīng)脈沖寬度 (FWHM)

1.0

1.0

Ns

典型暗計(jì)數(shù)率

10

25

Mcps

工作偏置

50-80

V

(1)   近紅外TEC探測(cè)器的光子檢測(cè)效率包括串?dāng)_和后脈沖。





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