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光譜橢偏儀

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更新時間：2017-11-12 23:06:32瀏覽次數：879次

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北京羲和陽光科技發展有限公司

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產品簡介

光譜橢偏儀
產品型號：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業內Z高測量精確度。

詳細介紹

光譜橢偏儀
產品型號：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業內zui高測量精確度。

技術參數
■ 膜厚范圍：0-30000nm
■ 折射指數：± 0.0001
■ 厚度準確度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°

特點
■ 光譜范圍：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可選擴展光譜范圍NIR （700 - 1700 nm） or （700 - 2100 nm）、UV-VIS 范圍（190 - 1100 nm）；

■ 自動旋轉起偏器可精確測量任意偏振狀態；

■ 步進掃描分析儀可高速采集低噪音信號；

■ 可變角度范圍：from 10-90°，可升級為自動變角度10-90°控制；

■ 單層薄膜/多層薄膜快速薄膜厚度、折射率測量；

■ 專業測試軟件可大范圍Psi和Delta數據自動測量，并對測試數據進行采集和分析，內置幾百種材料數據庫；

■ 可擴展二維自動掃描平臺，實現（50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm）Mapping測量功能以及3D分析；

關鍵詞：橢偏儀電池

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