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單晶型號測試儀

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更新時間：2017-12-14 11:22:35瀏覽次數：374次

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北京羲和陽光科技發展有限公司

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產品簡介

單晶型號測試儀
是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P"和“N"的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。

詳細介紹

單晶型號測試儀
單晶型號測試儀是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。

功能特點
儀器采用進口16位單片IC電路為核心，利用數字采集濾波技術，并用“P”和“N”數碼直接顯示，因而使測量的準確度和穩定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便。
技術指標
■ 測量范圍：硅單晶材料電阻率0.01~199.9Ω*cm
■ 可測量材料：半導體硅棒和硅片、硅碎顆粒
■ 顯示方式： P、N直顯
■ 測試探頭：手持式三探針（高速鋼）