BETASCOPE作為臺(tái)式儀器MMS和MMS PC2的測(cè)量模塊,無(wú)損涂層測(cè)厚儀,是根據(jù)β背散射法,易高涂層測(cè)厚儀,由不同材料間的差異,elcometer涂層測(cè)厚儀,來(lái)測(cè)量涂鍍層厚度的,非鐵基涂料涂層測(cè)厚儀,特別適用于測(cè)量較薄的有機(jī)涂層。
特點(diǎn)
MMS系列儀器內(nèi)的模塊BETASCOPE® 的工作原理是基于β背散射法.
只要涂層材料元素和基材材料元素間原子序數(shù)的差大于5,廈門涂層測(cè)厚儀,則幾乎任何基材上的任何材料的涂層厚度都是可以測(cè)量的
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 不銹鋼上的納米涂層(防指紋)
- 太陽(yáng)能電池涂層(玻璃上的CdTe涂層)
- 電鍍廠中經(jīng)濟(jì)地使用手持探頭測(cè)量單鍍層厚度)
- 在涂料生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中,德國(guó)菲希爾mpo涂層測(cè)厚儀,用于測(cè)量金屬基材上有機(jī)涂層的厚度
- 在金屬板制造和加工工業(yè)中,涂層測(cè)厚儀使用,用于對(duì)油膜層、"Bonazinc"涂層等防腐涂層進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控
- 薄膜,oxford涂層測(cè)厚儀,紡織面料