X射線鍍層厚度分析儀是款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美進口，軟件算法采用美EDXRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有三方檢測機構報告；精密度、度、檢出限等技術參數面超過內外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到的測試效果。

X射線鍍層厚度分析儀探測器

● 類型：進口高性能電致冷半導體探測器

● Be窗厚度：1mil

● 晶體面積：25mm2

● 佳分辨率：145eV

●信號處理系統：DP5

X射線管

●電壓：0-50v

●大電流;2mA

●大功率:50W

●靶材：Mo

●Be窗厚度：0.2mm

●使用壽命：大于2w小時

高壓電源

●輸出電壓：0-50Kv

●燈絲電流0-2mA

●大功率：50w

●紋波系數：0.1%（p-p值）

●8小時穩定性：0.05%

攝像頭

●焦距：微焦距

●驅動:免驅動

●像素：500萬像素

準直器、濾光片

●系統：快拆卸準直器、濾光片系統

●材質：多種材質準直器

●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選

十字激光頭

●光斑形狀：十字線

●輸出波長：紅光650nm

●光學透鏡：玻璃透鏡

●尺寸：Φ10×30mm

●發散角度：0.1-2mrad

●工作電壓：DC 5V

●輸出功率：<5mW

●工作溫度：－10～50℃

其它配件

●開關電源：進口高性能開關電源

●散熱風扇：進口低噪聲、大風量風扇

● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長x寬x高）

● 樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長x寬x高，高度可定制）

● 儀器重量：50kg

● 供電電源：AC220V/ 50Hz

● 大功率：330W

● 工作溫度：15-30℃

● 相對濕度：≤85%，不結露

● 根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試度。

● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。