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CCD光電性能測試系統

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更新時間：2024-09-03 08:33:32瀏覽次數：233次

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產品簡介

產品簡介：◆ 產品名稱：CCD光電性能測試系統◆ 產品應用：主要用于線、面陣CCD光電相應性能測試。

詳細介紹

◆ 產品名稱：CCD光電性能測試系統

◆ 產品應用：主要用于線、面陣CCD光電相應性能測試。

◆ 產品介紹：本系統能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設計及輻射校正設計及為光電成像

器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題；同時能夠在業界對光電成像器件抗輻射性能評價

的標準化和規范化起到積極推進作用。

◆ 產品主要測試功能：

1) 飽和輸出電壓（SV）

2) 飽和曝光量（SE）；(A光源)

3) 光輻射響應度（燈光照明下的R）；輻射照度響應度（A光源）

4) 相對光譜響應度RS；

5) 響應度均勻性（PRNU）；

6) 響應度非線性度；

7) 電荷轉移效率（CTE）；

8) 光譜和白光傳遞函數（MTF）；

9) 暗信號（DS）；

10) 暗噪聲（VNOISE）；

11) 噪聲等效曝光量（NEE）；

12) 動態范圍（DR）；

13) 非線性度（NL）；

14) 固態圖片噪聲（FPN）。

◆ 產品主要技術指標：

★ 工作光譜波段：380nm~1100nm；

★ 可測量CCD尺寸: 100mm×100mm；

★ 光源均勻性：優于1%；

★ 光源穩定性：優于0.5%/h；

★ 光譜分辨率：＜2nm；

★ A/D量化等級：14bit；

★ 動態范圍：80dB；

★ 測量值不確定度：5%；

★ 重復性誤差：2%。

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