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Omni-λ200i系列“影像譜王”光柵單色儀

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產(chǎn)品型號Omni-λ200i

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更新時間：2024-04-12 09:18:32瀏覽次數(shù)：82次

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北京卓立漢光儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

在第四代光譜儀基礎上，于2015 年全新推出第五代高通光量、寬光譜影像校正光譜儀。通過采用非球面鏡進行影像校正，*大限度地抑制了像散，使得離軸信號能夠在焦平面上匯聚于空間上的同一位置，獲得了清晰的成像，從而提高了信號強度，提升了光譜儀信號收集的能力。通過巧妙的設計，提升了整個CCD 探測面的影像質量（間接的增大了波段的使用范圍，更便于多通道光纖的使用），也因為成像質量的提高，使得影像校正光譜儀還可......

詳細介紹

產(chǎn)品概述

Omni-λ200i系列“影像譜王”光柵單色儀功能及特點

光譜范圍廣，靈敏度高，測量精度高；
優(yōu)良的機械和溫度穩(wěn)定性，保證產(chǎn)品的一致性；
預留各種接口，兼容各種光譜設備, 穩(wěn)定的光學性能，方便集成到系統(tǒng)中;
成本低，操作簡單，是OEM應用的理想選擇;
采用超環(huán)面影像校準設計，光譜影像校正，多通道光譜研究的*佳解決方案；
出色的雜散光抑制比（5X10-5）；
雙光柵塔臺設計，覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍，即插即用，只需零級校正，實驗操作更加方便；
多種高性能的紫外-可見-紅外探測器可選
多種附件可選，包括：濾光片輪、電動狹縫、電動快門、光纖等；
可與光源、探測器自由組合，實現(xiàn)熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發(fā)射光譜測試。

規(guī)格參數(shù)表（@1200g/mm光柵）

Omni-λ200i系列
焦距（mm）	200
相對孔徑	F/3.5
光學結構	C-T
掃描步距（nm）	0.01
雜散光	5X10-5
焦平面(mm)	30 (w)X14 (h)
光軸高度（mm）	146
光柵規(guī)格mm	50X50
光柵臺	雙光柵
狹縫規(guī)格	縫寬0.01-3mm連續(xù)手動可調(diào)，可選配自動狹縫。縫高：2、4、14mm可選
外形尺寸（mm）	300X216X213
重量（Kg）	14
功耗	峰值100W@24V
通訊接口	標配USB2.0

規(guī)格參數(shù)表@不同光柵

光柵（g/mm）	2400	1800	1200	600	300	150	75
倒線色散(nm/mm) @435.83nm	1.4	2.16	3.58	7.68	15.76	31.89	64.09
機械掃描范圍（nm）	0-600	0-800	0-1200	0-2400	0-4800	0-9600	0-19200
掃描步距（nm）	0.005	0.007	0.01	0.02	0.04	0.08	0.16
光譜分辨率（nm） @PMT	0.08	0.1	0.15	0.3	0.6	1.2	2.4
光譜分辨率（nm） @CCD（15um）	0.106	0.163	0.27	0.58	1.19	2.41	4.84
CCD單次攝譜范圍（nm） @30mmCCD	42	64.8	107.4	230.4	472.8	956.7	1922.7
波長準確度（nm）	±0.1	±0.14	±0.2	±0.4	±0.8	±1.6	±3.2
波長重復性（nm）	0.05	0.07	0.1	0.2	0.4	0.8	1.6

注1：分辨率的測試條件為中心波長435.83nm；

注2：200i光譜儀，只有側入口，且CCD只能配置側出口;

注3：CCD單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值，隨著中心波長增加，攝譜范圍變窄；

注4：隨著中心波長的增大，倒線色散數(shù)值減??；隨著中心波長的減小，倒線色散數(shù)值增大。

Omni-λ200i系列“影像譜王”光柵單色儀典型型號表

型號	描述
Omni-λ2002i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、CCD側出口、可同時安裝兩塊光柵
Omni-λ2003i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫直出口、CCD側出口、可同時安裝兩塊光柵
Omni-λ2005i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫直出口、可同時安裝兩塊光柵
Omni-λ2007i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫雙出口、可同時安裝兩塊光柵
Omni-λ2015i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫直出口、可同時安裝兩塊光柵，紅外鍍膜
Omni-λ2017i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫雙出口、可同時安裝兩塊光柵，紅外鍍膜
Omni-λ2045i	200mm焦距影像校正光譜儀側入口、狹縫直出口、可同時安裝兩塊光柵，紫外增強鍍膜
Omni-λ2047i	200mm焦距影像校正光譜儀