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珠海天創儀器有限公司
用于測量任何基體上的非固化的粉末涂層厚度。可以準確預測涂層固化后的厚度
用于測量任何基體上的非固化的粉末涂層厚度。可以準確預測涂層固化后的厚度,
準確度達到5um,因此可節約30%的人工粉末使用量。
參數:尺寸:238×98×41mm
測量范圍:30-110um
精度:1um
測量距離:0-17mm
操作溫度:5-45℃
配置:550測厚儀(含充電電池),超聲探頭及連線,電池充電器,校準板,操作說明書。
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