UV754N上海精科紫外可見分光光度計

UV754N上海精科紫外可見分光光度計商品簡述： 

是一種能適應現(xiàn)代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化

工、生物化學、大專院校及質量控制等部門。 
 
UV754N特點：

● 采用先進的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。

● 一鍵實現(xiàn)自動調零和調滿度功能。

● 嚴密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統(tǒng)的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數(shù)重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。

● 大屏幕字符型液晶顯示器。

● 數(shù)據(jù)打印和時間打印。

● 待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法二種濃度線性回歸運算。

● *的自動消除比色皿誤差功能。

● 配有高速熱敏打印機

● 配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。

● UVWin7軟件包（另購）。

UV754N主要技術指標：

● 波長范圍；200nm～1000nm

● 波長大允許誤差：±2nm

● 波長重復性：≤1nm

● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）

● 透射比重復性：≤0.2%（T）

● 光譜帶寬：4nm

● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)

● 穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min  亮電流漂移：≤0.5(T)/3min