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TESCAN XEIA3 FIB-SEM雙束電鏡

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TESCAN XEIA3 FIB-SEM雙束電鏡集非凡的超高分辨成像能力和優異的微細加工于一體。強大且超快速的微/納米 FIB 加工、低能電子束下的超高分辨率（UHR）、超快且可靠的微量分析和三維重構功能，使得 XEIA3 成為一款理想易用的 FIB-SEM 系統。

詳細介紹

XEIA3 集非凡的超高分辨成像能力和優異的微細加工于一體。強大且超快速的微/納米 FIB 加工、低能電子束下的超高分辨率（UHR）、超快且可靠的微量分析和三維重構功能，使得 XEIA3 成為一款理想易用的 FIB-SEM 系統。

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