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浙江普朗克儀器有限公司
PJ40半導體檢查顯微鏡儀器簡介1、各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像
PJ40半導體檢查顯微鏡
儀器簡介
1、各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計,擁有堅實可靠的系統結構。
2、這款經濟高效的顯微鏡能夠檢查多種器件和晶圓。調焦機構和照明強度控制裝置相互緊挨,可使用同一 只手操作。特別適合中小尺寸半導體FPD檢查,線路板切片量測,符合行業標準,增強了安全性和可靠性。
3、的明場光學系統,采用全新半復消技術,集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式,任何觀察下都能呈現清晰銳利的顯微圖像,可根據實際應用,進行功能選擇,是工業檢測的有效工具。
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