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深圳市金檢時代科技有限公司
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SE-PCT02 通用型高精密CT檢測系統
SE-PCT02通用型高精密CT檢測系統.能在短時間內建出多層斷層圖像包括樣品的三維成像，快速，準確的對樣品進行建模、分析和檢測。
產品優勢
載物臺承重 30kg，可檢樣品300×600mm
分辨率自動定位
快速重建，區域高精度重建結合，精確分析客戶關注需求
三維點云圖任意角度切片提取，精準分析
多尺度二維圖像增強，細節更突出
掃描過程簡單、重建成像迅速
應用領域
小型及中型金屬件
復合材料
功率半導體
生物樣本
陶瓷器件
系統規格
系統參數
空間分辨率：＞3μ m
最小缺陷分辨率：1.5μ m
對比度分辨率：小于1%
測量誤差：（1.5+L/200）μ m
射線防護：﹤1μ Sv/h，符合國家 GBZ117-2015 標準
樣品直徑：300mm
樣品長度：600mm
樣品重量：30kg
設備尺寸：2500mm(長)×1500mm(寬)×1800mm(高)
設備重量：約 5000kg
供給電源：220VAC, 50/60Hz
工作環境：0℃～ 40℃ / 30 ～ 85RH
設備功率：1.3KW
探測器
像素矩陣：3072X3072
成像面積：427mmX427mm
像素尺寸：139μ m
X射線源
電壓：225kV
最小焦斑：＜3μ m
光管類型：開管
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