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磁感應原理膜厚測量儀

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更新時間：2024-06-29 11:50:53瀏覽次數：173次

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產品簡介

磁感應原理膜厚測量儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應膜厚儀來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。

詳細介紹

磁感應原理膜厚測量儀

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

還是采用磁性原理測量較為合適

磁感應原理膜厚測量儀X射線衍射裝置
簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質中的元素信息（物質構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質中的結晶信息。具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉（Na）和氯（Cl）構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由（NaCl）的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置（XRD為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性。膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

磁感應原理膜厚測量儀功能：

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
操作過程有蜂鳴聲提示；
電池電壓指示：低電壓提示
自動關機
測量方法：F 磁感應 NF 渦流

關鍵詞：有色金屬測厚儀電池