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煜釧國際貿易（上海）有限公司
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美國CHAVEZ查韋斯電容物位計系引進制造工藝生產的物位測量產品。它使復雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強腐蝕等介質的物位測量變得容易而簡單。經過不斷地的堅持和實踐，以射頻電容的物位測量系統日臻完善，現已開發利用并生產出能夠不同要求的如污水、污油、油水界面、固體顆粒等的物位測量產品。 二、主要特點 應用射頻電容，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導電性等因素對測量過程的影響，因而具有抗干擾性；......
一、概 述
美國CHAVEZ查韋斯電容物位計系引進制造工藝生產的物位測量產品。它使復雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強腐蝕等介質的物位測量變得容易而簡單。經過不斷地的堅持和實踐，以射頻電容的物位測量系統日臻完善，現已開發利用并生產出能夠不同要求的如污水、污油、油水界面、固體顆粒等的物位測量產品。
二、主要特點
應用射頻電容，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導電性等因素對測量過程的影響，因而具有抗干擾性；
能夠測量強腐蝕性的液體和固體顆粒，如酸、堿、鹽、水、污水等液體和化工原料、飼料、糧食、煤灰、水泥、面粉等粉狀或顆粒狀固體。
高溫高壓測量：過程溫度25~+220℃；過程壓力-0.1~4.0MPa 。
現場定標為用戶投用產品提供了便利。
HART通訊用手操器可遠程調校
三、技術參數
◆ 電容物位儀表：兩線制，Hart，液晶顯示；
◆ 測量方式：射頻電容；
◆電 源：24VDC±10%
◆輸 出：4~20mADC
◆ 精 度：0.5%(4~20mA）
◆環境溫度：-25~+70℃
◆ 環境濕度：0-95%RH
◆介質溫度：-25~+220℃
◆過程壓力：-0.1~4.0MPa
◆ 測量范圍：0-5000PF
◆防爆標志：Ex（ia）Ⅱ CT4
◆外 殼：鋁合金隔爆型，可用于潮濕、有酸氣等腐蝕環境
◆探 極：可采用任一種剛性或柔性探極
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