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東莞市鑫洋儀器設備有限公司
CXT2667超低四探針方阻測試儀產品信息:CXT2667四探針測試儀是一款采用雙電測-改進型范德堡法測試電阻率/方阻的具有超低電阻測試功能的多用途綜合測量儀器
CXT2667超低四探針方阻測試儀
產品信息:
CXT2667四探針測試儀是一款采用雙電測-改進型范德堡法測試電阻率/方阻的具有超低電阻測試功能的多用途綜合測量儀器。尤其適用于超低阻值材料的測試。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。儀器運用雙電測原理,進行多次測量,自動消減樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高測量精度和一致性。
應用:
儀器具有10-7 歐姆的超低分辨率,尤其適合金屬片、炭素等導體的超低電阻/電阻率的測試。儀器同時也適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產單位對導體材料、半導體材料、器件的導電性能的測試,滿足對材料(棒材、片材等)的電阻率及擴散層、離子注入層、異型外延層和導電薄膜、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜等導電材料的電阻/方阻/電阻率的測試需要。
性能特點:
1、32位核心處理器,雙電測測試模式,測量精度高、穩定性好
2、4.3英寸彩色液晶屏可同時顯示電阻、電阻率、方阻;也可單獨顯示,直觀清晰
3、精度高:電阻基本精度:0.05% 方阻基本精度:3 % 電阻率:3 %
4、測量范圍寬: 電阻:10-7Ω-106Ω
方阻:10-7Ω/□-106Ω/□
電阻率:10-7Ω.cm-106Ω.cm
5、電阻 小分辨: 0.1uΩ,可測量金屬箔等超低阻材料
6、可手動或自動選擇測試量程
7、雙電測模式修正探針游移,提高方阻測試精度
8、材料厚度等參數可預設,自動修正樣品電阻率,無需查表
9、全量程自動清零功能
10、可預置標準值,儀器可顯示直讀、偏差
11、3檔分選功能,1檔合格,1檔超上限,1檔超下限
12、具備溫度補償功能,修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差
13、RS232C、USB口實現遠程控制
14、U盤可記錄測試數據
15、適合各種測試探頭,可測多種材料和參數
技術指標:
成套組成:
由CXT2667主機、選配的四探針探頭、測試臺及選配上位機軟件等組成。
探頭選型指南:
根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等材料的電阻率/方阻。
由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此該儀器可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭。根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。詳細請見探頭選型表。
探頭選型表:
標準配件:
可選配件:
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