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KDT系列拔插式四探針頭

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北京綠野創能機電設備有限公司
2018-05-15 14:58:15
北京市
998

【簡單介紹】

拔插式四探針頭適用范圍： 1、測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。 2、測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻。

【詳細說明】

拔插式四探針頭技術指標
1、游移率

B級…………… ＜0.5%
*……………＜0.3%

A*………… ＜0.2%
2、間距偏差

                   B級…………… ＜3%
                   *…………… ＜2%
                   A*…………  ＜2%
3、 zui大針與導孔間隙：0.006mm
4、探針材料：進口硬質合金或高速鋼
5、探針壓力      標準壓力：4—10N（4根針總壓力）
                        1牛頓（N）=101.97克
6、針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V絕緣電阻：＞1000MΩ

拔插式四探針頭適用范圍：
1、測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻。


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KDT系列拔插式四探針頭

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