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鄭州世瑞思儀器科技有限公司
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更新時間：2023-06-12 17:23:59瀏覽次數(shù)：244次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線主要應用領域：1．研究電化學機理2．生物技術3．物質的定性定量分析4．常規(guī)電化學測試5．納米科學研究6．傳感器研究7．金屬腐蝕研究8．電池研究9．電鍍研究主要技術指標：恒電位儀恒電流儀槽壓：±15V靈敏度1×10-14A電位控制范圍：±12
主要應用領域：
1． 研究電化學機理
2． 生物技術
3． 物質的定性定量分析
4． 常規(guī)電化學測試
5． 納米科學研究
6． 傳感器研究
7． 金屬腐蝕研究
8． 電池研究
9． 電鍍研究
主要技術指標：
恒電位儀
恒電流儀
槽壓：±15V
靈敏度1×10-14A
電位控制范圍：±12.8V
電流控制范圍±250mA
電位上升時間﹤0.25微秒
輸入阻抗：>1013W//<10pF
脈沖電流：±250mA
設置脈沖電流數(shù)：8個
D/A轉換速率18bit
A/D轉換速率24bit
電流測量分辨率﹤0.01pA
量程：5nA-250mA 9檔
電位更新速率：5MHz
CV的最小電位增量：0.1mV
CV 和LSV掃描速度0.1～10000mV/s
電位掃描時電位增量：0.1mV@200mV/mS
DPV和NPV脈沖寬度2～5000ms
SWV頻率1～100KHz
自動和手動電流、電位零位調整
環(huán)境溫度：5—400C
運行時間：0--100，000s
通訊接口：RS232與USB互換
儀器尺寸：36*30*13
電位和電流測量低通濾波器，自動和手動設置
主要測量技術:
線性掃描伏安法 (LSV)
恒電位電解電流-時間曲線（I-T）
循環(huán)伏安法 (CV)
恒電位電解電量-時間曲線（Q-T）
線性掃描溶出伏安法 (LSV)
恒電位溶出電流-時間曲線（I-T）
階梯伏安法 (SCV)
恒電位溶出電量-時間曲線（Q-T）
階梯循環(huán)伏安法 (SCV)
單電位階躍計時電流法（I-T）
階梯溶出伏安法 (SCV)
多電位階躍計時電流法（I-T）
方波伏安法 (SWV)
單電位階躍計時電量法（Q-T）
方波循環(huán)伏安法 (SWV)
多電位階躍計時電量法（Q-T）
方波溶出伏安法 (SWV)
電位溶出E-T曲線
常規(guī)脈沖伏安法 (NPV)
開路電勢E-T曲線
差示脈沖伏安法 (DPV)
單電流階躍計時電位法
差示脈沖溶出伏安法 (DPV)
多電流階躍計時電位法
差示常規(guī)脈沖伏安法 (DNPV)
控制電流E-T曲線
塔菲爾圖 (TAFEL)
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