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X射線熒光鍍層厚度測量儀

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產品型號FT150

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更新時間：2023-02-23 07:22:34瀏覽次數：199次

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產品簡介

FT150伴隨光學系的升級

詳細介紹

FT150
伴隨光學系的升級，實現相比以往機型更高的靈敏度
對應nm級Au鍍層及數十nm Pd鍍層測量效率提升2倍以上
FT150L
對應600 mm×600 mm 大型線路板
配備防X射線泄漏的封閉結構樣品室
FT150H
對應微區Sn、Ag等鍍層測量
對應陶瓷電子組件端子、Sn-Ag無鉛焊錫等

FT150配備新型聚光光學系和更高規格的Vortex檢測器，能夠得到比以往機型更高強度的X射線熒光。
相比以往機型（FT9500X系列），對應微小金屬鍍層測量的效率提高2倍以上，在相同的測量時間下能夠提高其測量精度。
實現高精度并且高效的測量。

項目	描述
X射線照射方向	上方照射式
上方照射式	Al (13) ~ U(92)
測定環境	大氣
Ｘ射線發生部	45kV, 鉬Mo 靶材
設計	毛細管聚焦Poly-capillary
管電流	1000μA　可變
X射線檢測部	Silicon Drift Detector (SDD)
測定面積	φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
樣品面積	長400mm、寬300mm、高200mm
電動XY樣品臺驅動移動范圍	400×300mm
CCD Camera	1百萬相數
對焦模式	雷射自動對焦
測量模式	Thin Film FP (5層, 10元素)/檢量線法
選配	FT150H : 鎢W target FT150L : 鉬Mo target