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寧波新材料測試評價中心有限公司
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廠商：日本電子株式會社型號：JEM-2100F（特制）到貨日期：2013-3-5主要儀器參數：●電子光源：200KV場發射●極限分辨率：0.45nm●磁場范圍：水平方向：-600～600Oe●溫度范圍：室溫主要用途：JEOL-2100F洛倫茲透射電子顯微鏡以其的物鏡設計可以使樣品區域電鏡產生的磁場小于10Oe
廠 商：日本電子株式會社
型 號：JEM-2100F（特制）
到貨日期：2013-3-5
主要儀器參數：
● 電子光源：200KV 場發射
● 極限分辨率：0.45 nm
● 磁場范圍：水平方向：-600～600 Oe
● 溫度范圍：室溫
主要用途：
JEOL-2100F洛倫茲透射電子顯微鏡以其的物鏡設計可以使樣品區域電鏡產生的磁場小于10 Oe，同時保持0.45 nm的晶格分辨率，從而實現對剩磁狀態下的磁性材料內部磁結構表征。適用于薄膜、塊體、粉末等多種形態樣品。主要用途如下：
1.普通形貌、選區電子衍射。
2.利用加磁場樣品臺可對樣品水平方向施加磁場，原位觀測加場過程的磁結構變化。
3.本電鏡還配有電子雙棱鏡附件可同時分析磁性材料的磁疇結構和樣品內部磁場電場分布。
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