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定量剛性探針，消除基于彈性懸臂的納米壓痕測試技術固有的不確定性和復雜性。專有電容式傳感器技術，提供對納米壓痕過程的**控制，并提供業界*的力和位移噪聲水平。直觀聯用接口，可簡便與流行的商用 AFM 的集成，包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。
布魯克的Hysitron TS 75 TriboScope納米壓痕儀為原子力顯微鏡領域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。Hysitron TriboScope 與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯用，以擴展這些顯微鏡的表征能力。通過利用剛性測試探針，TriboScope 消除了與懸臂基測量相關的固有限制、可變性和復雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復的力學和摩擦特性。
剛性探針優勢
大多數 原子力顯微鏡（AFM） 利用適當的懸臂進行力學或摩擦學測試，在將懸臂的彈性和旋轉剛度與材料對施加應力的反應分離方面提出了重大挑戰。TriboScope 采用剛性測試探頭組件，允許在測試期間直接控制和測量施加的力和位移。
專有靜電力驅動
TriboScope 利用專有的靜電力驅動和電容位移感傳感器技術，提供業界*的噪聲水平和低熱漂移，從而將性能描述到納米級的極限。
力和位移反饋控制
TriboScope 在閉環力控制或位移控制下工作。TriboScope 利用 78 kHz 反饋環路速率，可以響應快速材料變形瞬態事件，并忠實地再現操作員定義的測試功能。
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