當前位置：科睿設(shè)備有限公司>>半導體測試設(shè)備>>非接觸式全自動曲率及薄膜應(yīng)力測試儀

非接觸式全自動曲率及薄膜應(yīng)力測試儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：張先生查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-11-07 15:46:18瀏覽次數(shù)：753次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  半導體測試設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

科睿設(shè)備有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：12條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：張先生

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品描述：非接觸式全自動曲率及薄膜應(yīng)力測試儀在線訂購

詳細介紹

非接觸式全自動曲率及薄膜應(yīng)力測試儀

全自動二維或三維測量彎曲、弧度、坡度和表面曲率，
軟件模塊用于計算硅片和玻璃基板的薄膜應(yīng)力（晶圓應(yīng)力）

應(yīng)用
平板掃描用于非接觸式測量各種反射表面的平整度、波紋度、平均半徑和薄膜應(yīng)力，如硅片、鏡子、X射線鏡（Goebel鏡）、金屬表面或拋光聚合物。光學測量原理確保了高精度。它是基于測量垂直入射激光束沿等寬直線的反射角。通過測量點之間反射角的變化，可以精確地計算出表面形狀。對于某些應(yīng)用，反射角本身很有趣。因此，軟件還提供了這種測量選項。
對于半導體技術(shù)中的應(yīng)用，涂層中的薄膜應(yīng)力可以通過測量涂層前后的半徑來計算。

大測量區(qū)域
所用測量原理的一個特點是它獨立于測量領(lǐng)域。
因此，在不降低精度的情況下，可以任意增大標準測量區(qū)域直徑200毫米。

測量精度高
平板掃描具有較高的測量精度。測量系統(tǒng)的分辨率為0.1弧秒。表面形狀再現(xiàn)性達100nm。

測量范圍大，工作距離大
測量范圍是可以在一次掃描中測量的箭頭高度（或最小可測量曲率半徑）。平面掃描的特點是測量范圍非常大，這是無法實現(xiàn)與競爭性的測量方法，如條紋干涉儀。
因此，平面掃描適用于測量具有強曲率的表面，如Goebel反射鏡、硅片或其他。使用的光學測量原理工作時與工作距離無關(guān)，保證了較高的工作距離，因此不存在損壞試樣的危險。

可選二維或三維測量
可選，根據(jù)設(shè)備類型，可以完成單線掃描或完整的3D掃描。
三維掃描是由許多具有自動樣本定位的單行掃描組裝而成的。
該軟件為測量結(jié)果的圖形和數(shù)字表示提供了所有的可能性，如三維表示、剖面圖和測量協(xié)議。

薄膜應(yīng)力計算軟件模塊
對于半導體技術(shù)和所有應(yīng)用，在完成表面改性（如涂層或涂層去除）的情況下，軟件配備了用Fowkes理論計算薄膜應(yīng)力的模塊。通過這種方法，平板掃描可以快速而容易地測量薄膜應(yīng)力。薄膜應(yīng)力是根據(jù)涂層前后的平均曲率半徑計算出來的。

技術(shù)參數(shù)
再現(xiàn)性表面曲率（p-v）：小于100納米
光學測量系統(tǒng)的分辨率：0.1弧秒
光學測量系統(tǒng)精度: 1弧秒
測量速度: 10毫米--30毫米/秒
測量區(qū)域：標準直徑200 mm
試樣厚度：不限

最小曲率半徑和根據(jù)掃描長度確定的箭頭高度：
200毫米：R=18米290微米，
300毫米：R=25米435微米，
500毫米：R=43米725微米

自由工作距離：不限
測量波長：標準670納米
自動順序測試

關(guān)鍵詞：應(yīng)力測試儀

其他推薦產(chǎn)品更多>>