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無錫市金義博儀器科技有限公司
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一、概述X熒光分析技術是一種常規分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的方法之一
高壓電源：是給X光管提供高壓和電流并保持高壓和電流穩定的裝置，由升壓變壓器、高壓整流濾波、電壓電流調整及其相關的安全保護裝置構成。
X光管：由發射熱電子的燈絲陰極和接受電子的靶陽極組成。在電流作用下發射熱電子，在二極間高壓電場作用下，熱電子高速飛向靶陽極，產生X射線。
探測器：將X熒光轉變為電壓脈沖信號。為了準確區別不同能量的X熒光，必須采用SDD半導體探測器才能達到能量分辨率。
放大器：電壓脈沖信號放大到一定倍數，分為前置放大器和主放大器。前置放大器一般設計在探測器內，主放大器一般和多道分析器設計在同一主板里。
多道分析器：多道脈沖幅度分析器是核譜測量中的關鍵部件，它的作用是把被測得的模擬量轉變成計算機可以接受的數值量。經過放大的電壓脈沖信號進入模數轉換器（ADC）以數字形式進入和存儲在分析器各自的通道。幅度相同的脈沖進入同一通道，并加以記錄。
數據處理：主要包括X熒光能譜譜線的成形、譜線中各元素的特征譜峰識別、譜線的能量刻度、目標元素對應峰面積的計算、譜線漂移實時穩譜、建立數據庫、分析樣品、含量計算及報告打印等功能。
分析測試平臺：測試平臺可以自動升降、樣品架360度自動旋轉，激發和探測部分在平臺的上方，內有攝像頭可以監測樣品。
五、工作環境要求
環境溫度要求：15℃-30℃
環境相對濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
六、性能特點
※ 的上照射式光路結構，樣品自動升降測量平臺和自旋系統，測量粉末樣品，抽真空時即使落灰或垮樣，也不會污染探測器和光管，具有測量精度高、維護方便等優點；
※ 采用全數字化譜分析技術，計數率高，無漏計，穩定性好；
※ 光管激發樣品，無放射源，無毒無污染，多重安全的防護設計，使儀器的整機輻射符合國家輻射防護標準，讓用戶用的放心，安全可靠；
※ 采用電致冷硅漂移Fast-SDD半導體探測器，分析元素多，分辨率高；
※ 采用高真空度測樣裝置，10秒快速抽氣，可以保證30分鐘不漏氣，消除了空氣對低能X射線的阻擋，不僅可以分析K、Ca、Ti、V、Fe、Co、Ni、W、Cu、Pb、Zn、As等重元素，還可以滿足對Na、Mg、Al、Si、S、P、Cl等輕元素的準確分析；
※ 樣品種類：粉狀；
※ 腔內環境：空氣或真空；
※ 采用自動尋峰、S標樣測量等方式，確保了儀器短期穩定性和長期穩定性；
※ 根據不同樣品自動切換濾光片和準直器，保證了不同類型樣的測量精度；
※ 開放式工作曲線標定平臺，可量身定做物質檢測分析和控制方案；
※ 自行設定報告格式（Excel、PDF等），符合多種統計及格式要求；
※ 人性化設計，一體化結構，可適應不同環境，24小時連續工作，故障率低；
※ 分析軟件可以實現模式識別，自動分類，開放式軟件操作平臺，方便用戶根據自身需要增加樣品種類和類型，不受軟件限制，融合了一系列光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等；
※ 2048道多道譜儀實時測量顯示，對樣品X光譜進行精細分析，系統可自動識別譜線，方便了解樣品的組成；
※ 可一次性實現30多種元素的快速、無損、準確分析；
※ 數據管理設有用戶密碼，加強測試數據的嚴肅性及質量品控的可靠性。
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