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雙折射成像系統

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更新時間：2025-03-25 11:55:07瀏覽次數：63次

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江陰韻翔光電技術有限公司

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產品簡介

雙折射成像系統

詳細介紹

雙折射成像系統

特性

?內置波長為633 nm的光源

?所測樣品相位延遲**為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°

??20 mm的視場

?完整的成像系統包含軟件和筆記本電腦

?兼容MLS203-1
XY掃描位移臺

?定制工作波長可聯系技術支持

Thorlabs的LCC7201雙折射成像系統用于學術研究、醫療診斷、工業制造和產品質量保證，可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統基于液晶器件，其內部沒有相對機械運動，從而在運行過程中非常穩定，毫無振動干擾。

LCC7201工作的波長為633 nm，提供?20 mm的視場。該系統所測相位延遲范圍**為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。欲定制此類工作波長，請聯系技術支持。

在觀察樣品方面，LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架，同時還包含三個樣品支架插入件，分別可以固定?0.5英寸、 ?1英寸和2英寸 x 2英寸的光學元件。MLS203P2在X方向上可以實現手動調節，適用于比?20 mm視場大的樣品。此外，該系統還兼容Thorlabs的MLS203-1
XY掃描位移臺（提供X軸和Y軸方向的手動調節和電動調節），升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規格如右表所示。

購買時附帶軟件預先裝好的Windows®筆記本電腦。想要了解其他有關這個系統的軟件特性和樣品測量結果的信息，請查看上面的軟件標簽。

Specifications
Light Source Wavelengtha	633 nm
Retardance Measurement Range	Standard Retardance Range: 0 to 316 nm Low Retardance Range: 0 to 100 nm
Azimuth Measurement Range	±90°
Retardance Measurement Accuracy	Standard Retardance Range: < ±10 nm Low Retardance Range: < ±1 nm
Azimuth Measurement Accuracy	Standard Retardance Range: < ±3° Low Retardance Range: < ±1°
Measurement Rateb	< 15 s
Field of View	?20 mm
Spatial Resolution	9.77 μm
Interfaces	USB 2.0 and Gigabit Ethernet
Camera Resolution	2048 x 2048 Pixels
Dimensions	500.0 mm (D) x 360.0 mm (W) x 672.0 mm (H)
Weight	26 kg (57.3 lbs)
Operating Temperature	0 to 40 °C
Storage Temperature	-15 to 65 °C
Included Accessories	Laptop PC, Sample Holders, Birefringent Resolution Target (Item # R2L2S1B)