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上海繪統光學儀器廠
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DIC微分干涉工業顯微鏡JXM-4100是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的，作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。
| 技術規格 | |
| 觀察頭 | 30°鉸鏈式三目（50mm-75mm） |
| 目鏡 | WF10×/25mm |
| 物鏡 | 平場無限遠長工作. 距離明暗場物鏡： 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm、 10×/0.25B.D/W.D.16mm、 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、 |
| 轉換器 | 帶DIC插孔四孔轉換器 |
| 平臺 | 雙層移動平臺 |
| 平臺尺寸: 189mm×160mm | |
| 移動范圍：80mm×50mm | |
| 濾色片 | 插板式濾色片（綠、藍、中性） |
| 聚光鏡 | N.A.1.25阿貝聚光鏡帶可變光闌和濾色片 |
| 調焦 | 粗、微動同軸調焦，采用齒輪齒條傳動機構.微動格值0.002mm |
| 光源 | 透射照明:鹵素燈12V/50W, AC85V-230V,亮度可調節 |
| 落射照明:帶孔徑光欄和視場光欄，鹵素燈12V/50W，AC85V-230V, 亮度可調節 | |
| 偏光裝置 | 檢偏鏡可360度轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
| 檢測工具 | 0.01mm測量尺 |
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