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PE NexION 2000 ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀

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產品簡介

NexION® 2000電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）融合多項的創新技術，專為適應所有基體、克服一切干擾、挑戰任何納米顆粒檢測而打造。

詳細介紹

NexION 2000 ICP-MS的技術優勢包括：

高度靈活的通用池技術（Universal Cell Technology™），標配三路碰撞/反應氣，可以應用于高反應活性氣體（例如氨氣）作為反應氣的ICP-MS，助您有效去除質譜干擾，獲得優異的檢出下限；

全基體進樣系統（AMS），與智能動態線性范圍更寬的檢測器相匹配，可在進樣過程中對樣品實現智能在線稀釋，輕松實現復雜的樣品分析和不同基體樣品切換帶來的前處理時間

優異的掃描速度和瞬時數據采集速率（高達100000數據點/秒），配合的軟件模塊，實現單納米顆粒和單細胞的檢測；

革命性的LumiCoil™射頻線圈技術，無需水冷或氣冷；

操作軟件界面直觀，內置多種為U.S. EPA 6020、EPA 200.8、ISO 17294、USP 232/233和ICH Q3D等國際標準和法規量身定做的預設方法，應對飲用水、廢水、海水、土壤和藥品等的合規分析。

技術參數：

尺寸（寬x深x高）	81 x 69 x 75 cm
儀器配件	自激式射頻等離子體發生器，通用池技術，三錐接口（TCI），全彩等離子體觀測窗，四極桿離子偏轉器（QID），雙模同時檢測器
進樣系統	帶有AMS的高基體進樣系統（綠色）；帶有AMS和SC-FAST的高通量高基體進樣系統（黑色）；高純度SilQ石英進樣系統（白色）或耐HF進樣系統（白金色）
瞬時數據采集速率	100,000 amu/sec
檢出限（ng/L (ppt)）	Be、Co＜0.5，Fe＜1.5，In、U＜0.25
靈敏度（M cps/mg/L）	Be＞6，In＞100，U＞80
氧化物和雙電荷比率	CeO/Ce⁺ ＜0.025； Ce⁺⁺/ Ce⁺ ＜0.03
背景噪音	220 ＜ 1 cps
短期精度	< 3% RSD
長期穩定性	< 4% RSD（＞4h）
同位素比率精度	< 0.08% RSD
質量校準穩定性	< 0.05 amu（持續工作＞8 h）
四極峰跳速率	1.6 M amu/sec
四極掃描速率	5000 amu/sec
靈敏度	238 U
瞬態數據采集速度	＞3000 數據點/秒