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北京創(chuàng)誠致佳科技有限公司
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產(chǎn)品型號LSM 900
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時間：2023-06-09 17:35:14瀏覽次數(shù)：241次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線描述： 蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡（CLSM）是一臺用于材料分析的儀器，可在實驗室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行**的三維成像和分析。
簡介 ：
蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡（CLSM）是一臺用于材料分析的儀器，可在實驗室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行**的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時間。自動化也會給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢，例如表面粗糙度的評估。
LSM共聚焦平臺LSM 900專為2D和3D的嚴(yán)苛材料應(yīng)用而開發(fā)。
l 您可以用非接觸式共聚焦成像來表征樣品的形貌特征和評估表面粗糙度
l 以無損方式確定涂層和薄膜的厚度
l 您可以運(yùn)用各種成像方式，包括在光學(xué)觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像
l 在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。
無需切換顯微鏡，即可使用多種方式對新材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，減少儀器設(shè)置時間，提高獲得結(jié)果的效率。
l 在樣品的多個位置使用自動化數(shù)據(jù)采集優(yōu)化您的流程。
l 可以在概況圖像上靈活定義您感興趣的區(qū)域，只采集您需要的區(qū)域。
l 高達(dá)6,144 × 6,144像素的掃描范圍使您可以靈活定義掃描區(qū)域的大小甚至方向
l 掌控數(shù)據(jù)及其后期處理
共聚焦裝置助您拓展寬場分析能力：
l 將Axio Imager.Z2m正置式全自動顯微鏡或Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭進(jìn)行升級，您可充分利用其硬件，如物鏡、載物臺、光源等，及其軟件和接口的功能多樣性。
l 可選配的蔡司ZEN Intellesis軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí)的圖像分割解決方案，可用于鑒別不同的相組織。
l 在進(jìn)行多尺度實驗時，添加ZEN Connect來疊加和處理任意來源的圖像
l 使用ZEN Data Storage執(zhí)行智能數(shù)據(jù)管理
l 使用Shuttle＆Find關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)模塊擴(kuò)展您的共聚焦顯微鏡功能實現(xiàn)從光學(xué)顯微鏡切換至電子顯微鏡，反之亦然。將成像和分析方法高效結(jié)合。在材料分析應(yīng)用中獲取樣品信息。過程可重復(fù)。
蔡司LSM 900包含版本的ZEN成像軟件，其中包括用于數(shù)據(jù)交換的開放式應(yīng)用程序開發(fā)（OAD）接口。
l 自定義和自動化您的工作流程。當(dāng)基礎(chǔ)版ZEN軟件無法滿足您的需求時， 您可以使用已建立的第三方分析和研究軟件（如MATLAB）交換數(shù)據(jù)。
l 您可自行創(chuàng)建宏解決方案。輕松獲得ZEN的一系列重要功能，以及諸如.Net Framework等元件庫的能力。
ConfoMap是實現(xiàn)3D表面形貌顯示和分析的理想選擇。
l 根據(jù)的計量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行表面性能的質(zhì)量與功能評估，如 ISO 25178。
l 您可以在軟件中對圖像進(jìn)行綜合幾何形狀、功能性和粗糙度研究，以及創(chuàng)建詳細(xì)的表面分析報告。
l 新增可選模塊用于高級表面紋理分析、輪廓分析、晶粒與顆粒分析、3D 傅立葉分析及表面進(jìn)化分析和統(tǒng)計。
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