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斯坦德儀器設備有限公司
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德國Bruker X-射線熒光測厚儀
M1—Mistrial X-射線熒光鍍層測厚儀
Mistrial系列是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制XRF臺式熒光系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
Mistrial可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。
主要特點包括：;
?成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
?可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個元素的鍍層厚度測試，
?的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數22號）到鈾（92號）各元素
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術, Mistrial可實現如下測試要求：
?符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
?符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
?至多同時分析25種元素
如需了解詳細產品規格資料，煩請不吝來電！
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