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探頭掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LS-AFM

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更新時(shí)間：2023-03-06 14:36:42瀏覽次數(shù)：104次

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  顯微鏡

PL-160
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PL180-8A
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探頭掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LS-AFM

詳細(xì)介紹

◆ 實(shí)現(xiàn)樣品保持不動(dòng)，探針移動(dòng)掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡；

◆ 樣品尺寸、重量幾乎不受限制，特別適合超大的樣品檢測(cè)；

◆ 樣品臺(tái)可拓展性強(qiáng)，非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實(shí)現(xiàn)原位檢測(cè)；

◆ 電動(dòng)控制樣品移動(dòng)臺(tái)和升降臺(tái)，可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動(dòng)化檢測(cè)；

◆ 龍門(mén)架式掃描頭設(shè)計(jì)，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺(tái)；
◆ 馬達(dá)自動(dòng)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Ｗo(hù)探針及樣品；
◆ 高倍輔助光學(xué)顯微定位，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針以及樣品掃描區(qū)域；

◆ 集成掃描器非線(xiàn)性校正用戶(hù)編輯器，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%

技術(shù)參數(shù)

工作模式	接觸模式、輕敲模式	Z升降臺(tái)	步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制，最小步長(zhǎng)10nm
選配模式	摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力	Z升降行程	15mm（可選20mm，25mm）
力譜曲線(xiàn)	F-Z力曲線(xiàn)、RMS-Z曲線(xiàn)	光學(xué)定位	5X光學(xué)物鏡（可選10X/20X物鏡）
XYZ掃描方式	探針驅(qū)動(dòng)式掃描，壓電陶瓷管掃描器	攝像頭	500萬(wàn)像素?cái)?shù)字CCD
XY掃描范圍	70×70um	掃描速率	0.6Hz~30Hz
Z掃描范圍	5um	掃描角度	0~360°
掃描分辨率	橫向0.2nm，縱向0.05nm	運(yùn)行環(huán)境	Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)
XY樣品臺(tái)	步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制，移動(dòng)精度1um	通信接口	USB2.0/3.0
XY移動(dòng)行程	100×100mm（可選200×200mm，300×300mm）	儀器結(jié)構(gòu)	龍門(mén)架式掃描頭，大理石底座
樣品載物臺(tái)	直徑100mm（可選200mm，300mm）	減震方式	彈簧懸掛式（可選主動(dòng)式減震臺(tái)）
樣品重量	≤15Kg