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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

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更新時間：2023-12-18 09:25:42瀏覽次數：269次

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產品簡介

產品簡介lexSEM1000II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20kV下實現4.0nm的分辨率

詳細介紹

產品簡介

lexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。

· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率

· 憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現的畫質

· 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力

· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位

· 大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2

產品參數

項目	內容
分辨率*3	4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式）
加速電壓	0.3 kV～20 kV
倍率	×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率）
低真空設置	6～100 Pa
電子槍	集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament）
樣品臺	3軸馬達驅動樣品臺 X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 可觀察范圍：直徑64mm（R聯用）*4
樣品尺寸	直徑80 mm（選配：直徑153mm）
樣品高度	40 mm
尺寸	機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進深）×450（高度） mm
選項	· 高敏感度低真空檢測器（UVD2.0） · 能量色散型X射線檢測器（EDS）
軟件	Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能）