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上海納騰儀器有限公司
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XE-15 大樣品臺工業原子力顯微鏡
Park XE15具備多個特殊功能，是共享實驗室處理各種樣品，研究員進行多變量實驗，失效分析時研究晶片等的，合理的價格搭配強健的性能設置，Park XE15能夠實現多樣品一次性自動成像，實現大化，您只需要將樣品放在樣品臺上，在啟動掃描程序便可，該功能還可以在相同環境條件下掃描樣品，從而大大提高數據的精確性和穩定性，同時他還配有全面的掃描模式，可掃描各種尺寸的樣品。
基本技術特點
100μm x 100μm掃描范圍的XY柔韌導向掃描
撓性導向強力Z掃描12μm （25μm選配）
滑動連接的超亮二級管頭
多樣品夾頭
選配編碼器的XY自動樣品載臺
垂直對齊的電動Z載臺和聚焦載臺
6寸樣品臺
基本功能模式
標準成像 | 化學性能 | 介電/壓電性能 |
? 真正非接觸式 ? 接觸式 ? 側向摩擦力顯微技術（LFM） ? 相位成像， ? 輕敲模式 | ? 功能化探針的化學力顯微鏡 ? 電化學顯微鏡(EC-STM和EC-AFM) | ? 靜電力顯微鏡(EFM) ? 壓電力顯微鏡（PFM） ? 高電壓PFM |
力測量 | 磁性能 | 熱性能 |
? 力-距離（F-D）光譜 ? 力-體積成像 | ? 磁力顯微鏡 ? | ? 掃描熱顯微鏡（SThM） |
電性能 | 光學性能 | 機械性能 |
? 導電AFM（AFM） ? I-V譜線 ? 掃描開爾文探針顯微鏡（KPFM） ? 掃描電容顯微鏡（SCM） ? 掃描電阻顯微鏡（SSRM） ? 掃描隧道顯微鏡（STM） ? 時間分辨的光電流測繪（Tr-PCM） | ? 針尖增強拉曼光譜（TERS） | ? 力調制顯微鏡（FMM） ? 納米壓痕，納米刻蝕 ? 高壓納米刻蝕 ? 納米操縱 ? 壓電力顯微鏡（PFM） |
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