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EIGER2 R-DECTRIS混合像素光子計數探測器

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更新時間：2022-07-07 15:50:22瀏覽次數：363次

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產品簡介

DECTRIS	0

EIGER 2 R 集合了所有混合光子計數探測器的*技術。小尺寸像素與直接探測相結合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內進行精細的樣品測量。*的計數率性能確保精確測量高強度X射線。利用該探測器系列的巨大動態范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態下可進行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。

詳細介紹

1.EIGER 2 R: 您實驗室的新一代混合光子探測技術
EIGER 2 R 集合了所有混合光子計數探測器的*技術。小尺寸像素與直接探測相結合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內進行精細的樣品測量。*的計數率性能確保精確測量高強度X射線。利用該探測器系列的巨大動態范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態下可進行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具備可選擇的真空兼容性，空氣和窗口所產生的吸收和散射得以減弱。我們提供三種不同的型號滿足您的需求。EIGER 2 R集合了所有混合光子計數探測器的*技術。小尺寸像素與直接探測相結合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內進行精細的樣品測量。*的計數率性能確保精確測量高強度X射線。利用該探測器系列的巨大動態范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態下可進行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具備可選擇的真空兼容性，空氣和窗口所產生的吸收和散射得以減弱。我們提供三種不同的型號滿足您的需求。

2.核心優勢

– 由于零背景噪音，出色的計數率和同時讀寫，

所以具有很高的動態范圍
– 直接檢測和小像素尺寸以獲得光斑分離

和最小背景重疊

– 雙能識別有助于抑制低能量和高能量的背景
– 免維護，易于集成，可選真空兼容性

3.應用領域

– 大分子晶體學(MX)
– 化學晶體學
– 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/
WAXS）
– 粉末衍射（PXRD）
– X射線反射（XRR）

4.技術規格

EIGER2 R	500K	1M	4M
探測器模塊數量	1	1 x 2	2 x 4
有效面積：寬x高 [mm²]	77.2 x 38.6	77.1 x 79.7	155.1 X 162.2
像素大小 [μm²]	75 x 75
點擴散函數	1 pixel
能量閾值	2
閾值范圍（KeV）	3.5-30
計數率（cps/mm²）	6.9×10⁸
計數器深度（bit/threshold）	2×16
幀速率 [Hz]	50	100	20
采集模式	同時讀/寫，死區時間為零
圖像位深度（bit）	32
可選真空兼容	Yes
冷卻方式	風冷	水冷	水冷
尺寸（WHD）[mm³]	100 x 140 x 93	114 x 133 x 240	235 x 235 x 372
重量 [kg]	1.8	4.7	15

**所有規格如有更改，恕不另行通知。

北京優納珂科技有限公司為您提供EIGER2 R-DECTRIS（德科特思）混合像素光子計數探測器的參數、價格、型號、原理等信息，EIGER2 R-DECTRIS（德科特思）混合像素光子計數探測器產地為瑞士、品牌為德科特思，型號為EIGER2 R，價格為1RMB，更多相關信息可電話咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務!