XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術(shù)與厚樣技術(shù)相結(jié)合的方式，既可以對(duì)大量樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，也可以對(duì)塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的元素分析。特別適宜于針對(duì)RoHS指令的多元素測(cè)試。

XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì)，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以*遺留下來(lái)的洞。在“回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。

特點(diǎn)：

· 采用多光束可調(diào)節(jié)系統(tǒng)

· 高分辨率探測(cè)器

· 采用XYZ三維運(yùn)動(dòng)樣品臺(tái)

· 大型樣品分析室

· CCD攝像及自動(dòng)定位系統(tǒng)

· 自動(dòng)調(diào)節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)

主要技術(shù)指標(biāo)

分析原理 能量色散X射線熒光分析法

分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）

檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

樣品形狀 大460×380mm(高150mm)

樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體

樣品室氣氛 大氣

X射線管 靶材 Rh

管電壓 大50KV

管電流 大1mA

X射線照射徑 　 1/3/5mm

防護(hù) <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）

檢測(cè)器 硅SIPIN探測(cè)器

光學(xué)圖像觀察 　 倍率15倍

軟件 定性分析：自動(dòng)定性（自動(dòng)去背景/自動(dòng)剝離重疊峰/自動(dòng)補(bǔ)償逃逸峰/自動(dòng)補(bǔ)償譜圖漂移）

照射徑： 1/3/5mm

定量分析： 基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點(diǎn)校正

計(jì)算機(jī) CPU PentiumIV1.8GHz以上

內(nèi)存 256MB以上

硬盤(pán) 20GB以上

OS WindowXP

監(jiān)視器 17寸LCD

周?chē)鷾囟?10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動(dòng)作溫度）

周?chē)鷿穸?5～31。C時(shí)溫度范圍：大相對(duì)濕度80%以下

31～40。C時(shí)溫度范圍：相對(duì)濕度50%以下

電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗電力 1.3KVA以下（含計(jì)算機(jī)、LCD、打印機(jī)）

設(shè)備重量 約65kg(不含桌子、計(jì)算機(jī)）

外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm