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(1)防爆探頭式顆粒錄影顯微鏡技術(shù)PVM、2D工藝過程成像技術(shù)，優(yōu)于單獨(dú)的PVM，比PVM更加*；

*優(yōu)勢特點(diǎn)：一臺儀器可實(shí)時在線查看顆粒的形貌，同時可以在線計(jì)算出顆粒的粒徑大小和粒度分布。測量的范圍可以達(dá)到1微米-2000微米。（擴(kuò)充探頭可以達(dá)到5000微米）

*分為實(shí)驗(yàn)室用和工業(yè)在線使用，可根據(jù)客戶需求定制，在線粒度儀防爆級ExdⅡBT6Gb 和非防爆。

(2)防爆探頭式超聲在線顆粒粒度分布測量儀NANO，不同于聚焦光束反射測量儀FBRM，檢測范圍達(dá)到1納米-3000微米，測試的是真實(shí)的粒徑大小，非弦長計(jì)算！

在線實(shí)時晶體顆粒錄影顯微鏡技術(shù)PVM-2D,探頭式在線粒度測量儀能夠?qū)崿F(xiàn)對顆粒的形貌和尺寸大小做實(shí)時的準(zhǔn)確測量，進(jìn)而加深對過程的了解和實(shí)現(xiàn)過程的優(yōu)化控制及放大。除了固體結(jié)晶以外，對其他非固體的領(lǐng)域，例如氣泡，泡沫，乳狀液，液滴，聚合物，流場等刻畫也具有極其廣泛的應(yīng)用前景。在線晶體實(shí)時錄影系統(tǒng)晶體顆粒錄影顯微鏡技術(shù)PVM-2D,工藝過程成像探頭系統(tǒng)適用于生產(chǎn)中對過程的研究，產(chǎn)品開發(fā)及其改進(jìn)。特別適用于監(jiān)測，優(yōu)化和控制高顆粒濃度過程及非透明顆粒的生產(chǎn)過程。

應(yīng)用實(shí)例：

1、*冷卻結(jié)晶實(shí)驗(yàn)

在制備**晶體的過程中，冷卻結(jié)晶使*常用的手段之一。利用工藝過程成像系統(tǒng)可以很好的得到晶體的形貌和粒徑分布。并且了解，初始溫度，*終溫度，降溫速率，攪拌速率，晶種等，外加條件對晶體的形貌，粒徑等的影響。下面的實(shí)例利用了工藝過程成像系統(tǒng)，對*晶體結(jié)晶過程進(jìn)行監(jiān)控

成像系統(tǒng)觀察到*的晶體圖片，

*的顆粒粒徑大小分布圖， 2D工藝過程成像顆粒錄影顯微鏡技術(shù)PVM，可以幫助客戶很好的了解在結(jié)晶過程中的晶體隨外加條件的變化， 在高體積分?jǐn)?shù)時也能勝任。

*測量方式：在線測量晶體形態(tài)，平均尺寸，顆粒大小分布

*測量濃度：可高達(dá)50%固體顆粒濃度（與顆粒形狀相關(guān)）

*工作溫度：-10~150℃

性能特征

特殊設(shè)計(jì)的探頭（相機(jī)/鏡頭/光源）可廣泛地適用于許多困難物系（尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度）。

由于特殊的光源設(shè)計(jì)，本系統(tǒng)可有效的防止顆粒沉積/粘結(jié)于探頭上。

根據(jù)不同物系及客戶要求，本系統(tǒng)可設(shè)計(jì)不同方案（包括氣體清理系統(tǒng)）。

強(qiáng)大的圖像處理功能可實(shí)現(xiàn)顆粒多尺度分割，計(jì)算顆粒形狀參數(shù)（主元素分析和傅立葉變換），聚類分析和定量產(chǎn)品/過程控制。

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