EDX 8000H真空型X熒光光譜儀介紹
應用領域
礦石分析、合金檢測、有害元素檢測（RoHS、鹵素）、全元素分析、鍍層測厚分析等。X 射線熒光光譜儀分析具有制樣簡單、分析速度快、分析含量范圍寬、重現性好、準確度高等優點，隨著 X 射線熒光光譜分析技術的不斷推廣，利用 X 射線熒光光譜儀分析儀檢測已成為很多行業質量控制的主要手段。
性能介紹
01技術參數
元素分析范圍 : 鈉（Na）~ 鈾（U）
分析元素含量范圍 :PPM~99.99%（不同材質，分析范圍不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
環境溫度 :15-30℃
同時分析元素 : 一次可同時分析幾十種元素
測試時間 :50-200s
電源 : 交流 220V±5v，建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率 :129±5eV
樣品腔尺寸 :400*340*80mm
儀器尺寸：700*510*336mm
儀器重量：56kg
分析精度：0.05%（含量高于 96% 以上的精品，21 次測試穩定性）
高真空系統、高分辨率SDD硅漂移數字多道型電制冷探測器
02性能優勢
◆ 下照式：可滿足各種形狀和狀態的樣品測試需求，固體、液體、粉末都可進行快速無損檢測
◆ 高分辨率電子制冷探測器：良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，最新數字多道技術，測試速度更快，測試精度更高
◆ 新一代高壓電源和 X 光管：高效超薄窗 X 光管，指標達到國際水平，低能 X 射線激發待測樣品，對鋁硅、磷等輕元素激發效果更好
◆智能抽真空系統：屏蔽空氣的影響，大幅擴展儀器測試范圍
分析方法
01有損分析光譜法
AAS、ICP、AFS 在前處理方面跟化學滴定法相差不多，都必須把樣品制成溶液，其對微量元素分析精度高，要求分析測試人員素質高專業性強、測試時間短、人為誤差少等特點。用于實驗室環境條件下。
02無損分析光譜法
X 熒光法應用于材料分析的特點也很明顯，分析速度快、前處理簡單，樣品無損、人為誤差小、分析范圍廣、低檢出限達到ppm 級等的特點，可以測液體、固體和粉末樣品。
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佳譜儀器（蘇州）有限公司 | 下載次數 |
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