INVENIO 適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè)，從常規(guī)質(zhì)量控制到*的研發(fā)工作。無論您專注于高效、精準(zhǔn)或者必須符合規(guī)定，INVENIO總能支持您！
創(chuàng)新特性
全新設(shè)計(jì)的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比
嵌入式觸摸屏PC用于且高效的FT-IR分析（可選）
第二個(gè)樣品室可額外支持一種實(shí)驗(yàn)設(shè)置(TransitTM)
創(chuàng)新的 MultiTect™ 支持多達(dá)5個(gè)室溫檢測器，內(nèi)部可配備多達(dá)7個(gè)自動(dòng)檢測器
新型無磨損精準(zhǔn)調(diào)節(jié) INTEGRAL™ 干涉儀含三位分束器自動(dòng)切換組件，分辨率優(yōu)于 0.085cm-1
現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨最小的光譜特征
*的BRUKER FM檢測技術(shù)可以一次性收集遠(yuǎn)、中紅外光譜
從 FIR 到 VIS/UV 以及時(shí)間分辨光譜
需求變化，INVENIO 適應(yīng)
您的應(yīng)用程序是衡量事物的尺度，INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長，INVENIO 會(huì)跟上。它是您日常分析任務(wù)所需的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
的靈敏度
憑借新穎、高效的光路設(shè)計(jì)，以及由*的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng)，INVENIO能夠?yàn)槟峁┬阅埽偌?xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無處可遁。
強(qiáng)大的軟件
OPUS作為紅外分析領(lǐng)域大的軟件解決方案之一，能夠簡化測量程序，為FTIR初學(xué)者和專家提供支持，提供大量的方法創(chuàng)建成套工具，以及樣品評(píng)估擴(kuò)展功能。
時(shí)刻驗(yàn)證
INVENIO具有完整的自動(dòng)PQ（性能驗(yàn)證）和OQ（操作驗(yàn)證）程序，可在受監(jiān)管的制藥實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行儀器驗(yàn)證。
體驗(yàn)質(zhì)量
從耐用的外殼，到擁有、無損耗且精準(zhǔn)的干涉儀，每個(gè)元件均采用的材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用，能夠?yàn)槟峁╅L達(dá)多年的長久可用性。
不再受限
隨時(shí)升級(jí)，擴(kuò)展光譜范圍
實(shí)現(xiàn)步進(jìn)掃描、快速掃描和交叉掃描時(shí)間分辨光譜TRS
覆蓋從遠(yuǎn)紅外到紫外/可見光的任何細(xì)節(jié)
僅需數(shù)秒即可切換附件、檢測器和分束器
TGA、顯微鏡或發(fā)射分析等更多外部模塊
拉曼模塊用于增強(qiáng)分析可能性
符合GMP、GLP 及 21 CFR part 11
更多分析
INVENIO幾乎可與任何類型的樣品相匹配，僅需幾秒鐘便可切換采樣附件，借助第二個(gè)樣品室，您還能并行采用兩個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)置。
工作更輕松
為了始終確保的測量參數(shù)，所有核心組件均進(jìn)行了電子編碼。此外，可選的集成式觸屏電腦能夠帶來的直觀式用戶體驗(yàn)，以及*的聯(lián)網(wǎng)功能。
所用技術(shù)受以下一項(xiàng)或多項(xiàng)保護(hù)：US 7034944
要求質(zhì)量控制需要 INVENIO
常規(guī)和質(zhì)量控制
FT-IR 分析
INVENIO能夠簡化您的日常分析任務(wù)。可選的觸屏式電腦、無線聯(lián)網(wǎng)功能、的光譜性能、突破性的SoC電子元件和長壽命組件，而這些只是成就超凡INVENIO的其中一部分。
更好、更智能地工作
INVENIO觸屏式電腦（選件）能夠提供直觀式用戶界面和智能聯(lián)網(wǎng)功能，在實(shí)驗(yàn)室測量，在辦公室解析，將真正成為可能——無需纜線或人工傳輸數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)的工作流程限度地減輕了操作人員的工作量，同時(shí)保持功能不受影響。
可靠、高效、高產(chǎn)
從基本的QC/QA，到要求嚴(yán)苛的研究級(jí)應(yīng)用，不論您正在使用標(biāo)準(zhǔn)的ATR裝置、特殊的多角度反射裝置還是成像顯微系統(tǒng)。您都可以信賴INVENIO帶來的直觀明了的分析和測量結(jié)果。
始終值得信賴
PermaSureTM 能夠時(shí)刻監(jiān)測設(shè)備配置，并進(jìn)行快速自檢，以確保正常運(yùn)行，同時(shí)，PerformanceGuardTM 可通過持續(xù)監(jiān)測所有機(jī)械和電子元件來確保儀器的性能。
靈活的 FT-IR
TransitTM 通道（ATR或透射模式），帶有專用MIR DTGS檢測器的獨(dú)立第二樣品室，您將能進(jìn)行兩種實(shí)驗(yàn)設(shè)置，節(jié)約大量時(shí)間。
指尖上的FT-IR光譜
適用于Windows、ALPHA、INVENIO的OPUS Touch
INVENIO 的應(yīng)用
INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時(shí)間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級(jí)性的情景，從而改善您在工業(yè)或研究應(yīng)用領(lǐng)域的日常分析體驗(yàn)。
質(zhì)量控制
原料驗(yàn)證
產(chǎn)品缺陷故障排除
識(shí)別未知污染物
材料表征
揮發(fā)性成分的測定
分解過程表征
光學(xué)材料表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量測定
近紅外光譜范圍的光致發(fā)光測量
研發(fā)
時(shí)間分辨光譜學(xué)
傅立葉變換紅外光譜電化學(xué)
低溫實(shí)驗(yàn)
傅立葉變換紅外顯微及化學(xué)成像
原位反應(yīng)監(jiān)測
幅度調(diào)制（AM）光譜
制藥與生命科學(xué)
評(píng)估醫(yī)藥產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量
區(qū)分活性藥物成分的多晶型
蛋白質(zhì)構(gòu)象和濃度
微生物鑒定
聚合物和化學(xué)品
識(shí)別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料
識(shí)別無機(jī)礦物質(zhì)和色素
多層分析
配方研究
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制
聚合物動(dòng)態(tài)和流變-光學(xué)研究
傅立葉變換拉曼在各領(lǐng)域的應(yīng)用
環(huán)境
污染監(jiān)測（如微塑料）
土壤表征
環(huán)保在線