切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定

檢測器切換時附近波長測定數據例
（金納米棒的吸收光譜）

安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。

平行光束可實現反射光和散射光的精確測定

鏡面反射率測定示例

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器

檢測器產品線

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學設計

改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。

兼容多種U-4100附件

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。

掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜

掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜