一、主要性能特點
1、同時分析測量多種元素（從Na到U的任意多種元素）；
2、采用上照式設計，*避免污染，操作方便，無需維護；
3、對樣品進行無損分析，分析方便快捷；
4、全自動機電一體化設計，操作界面簡單；
5、八樣品自動進樣，樣品自動檢測，采用多層保護*屏蔽X射線對人體的輻射；
6、良好的溫度控制設備，儀器對外界的氣溫變化不敏感；
7、對樣品形態要求少，固體、液體、粉末樣品均可以直接檢測，無需復雜的制樣過程；
8、采用SDD探測器，分析速度快，精確度高，穩定性好，故障率低；
9、WINDOWS系統下的中文操作軟件，方便國內用戶使用。不同層次的操作員可隨時調用相關幫助菜單來指導對儀器的操作。
二、主要技術指標：
1．探測器
-- SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可）
--典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).
--輸入計數率：100KCPS，遠大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右)
--峰背比：>20000
--鈹窗厚度：8um Dura Be（一般的探測器在25um,對輕元素有更好的透過率，*的Dura技術
Be窗可以耐酸，堿的腐蝕）
--處理器：數字電路，放大倍數，時間常數可任意設置。
--高壽命，借助于其*的Dura Be技術，探測器在幾年的時間內探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔心后期的維護費用
2.X射線管
--高壓：0-50Kv連續可調
--電流：0-1000uA連續可調 （0-2500uA可選，大電流對Na-K有更好的激發效果）
--功率：50W
--穩定性：8小時0.2%
--高壽命，正確操作的情況下壽命可以達到50000小時
3. 高壓發生器
--輸入電壓：24VDC
--輸入電流：4A
--輸出電壓：50Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管)
--功率：50W
--穩定性：8小時0.05%
4. 精密結構設計
--垂直倒角設計，精密的控制保證優異的重復性，上照式設計可以*避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護
5. 冷卻散熱系統
--良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25℃，儀器結果不會有影響。
6.自動進樣系統
--8樣品自動進樣
7.光譜分析系統控制和數據處理系統
--16位模/數轉換器
--19英寸顯示器
--500G以上硬盤驅動
--多功能標準鍵盤
--打印機
8.分析軟件
--元素測量范圍：Na-U
--可以測量鍍層厚度
--標準曲線法，理論系數法，基本參數法，多元比例法 使您輕松應對各種樣品的分析
--開放式軟件設計，您可以自己開發新的工作曲線
--內置式參數設計，您在自己制作工作曲線時，各種干擾自動扣除。
9.尺寸規格
--長900mm寬500mm高620mm --重量約100kg
10.電源要求
--220V±10% 50Hz
11.工作環境
--溫度范圍：5—30℃。
--相對濕度小于等于80%
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