日本電子JEOL推出JMS-T2000GC AccuTOF™GC-Alpha是第六代GC-TOFMS，具有新一代的離子光學系統，可實現高效率離子傳輸（靈敏度）和超高解析力。
關鍵技術一：高性能飛行質譜儀
■ AccuTOF™GC-Alpha的基本性能
AccuTOF™GC-Alpha為二階段反射電子管的正交加速飛行時間質譜儀（oaTOFMS）。 它采用了的離子光學系統，可實現高效率離子傳輸（靈敏度）和超高解析力。
■ 多樣軟性游離源提供新的定性分析功能
關鍵技術一：高性能飛行質譜儀
■ AccuTOF™GC-Alpha的基本性能
AccuTOF™GC-Alpha為二階段反射電子管的正交加速飛行時間質譜儀（oaTOFMS）。 它采用了的離子光學系統，可實現高效率離子傳輸（靈敏度）和超高解析力。
| 高靈敏度檢測極限：IDL = 18.7 fg | 寬幅質量范圍：?m / z 6,000 |
 |  |
| Mass separation of m/z 28 高質量解析力：30,000 | 高質量精度：1 ppm |
 |  |
| 大寬幅動態分析范圍：4級數 | |
 |  |
■ 多樣軟性游離源提供新的定性分析功能
FI和FD?EI / FI / FD組合離子源（可選）
單一離子源，具有EI（硬性離子源）和FI / FD（軟性離子源）技術，可自動快速切換EI和FI / FD模式。
特征
• 無需更換離子源
• 無需打破真空
• 無需反應氣
通過將此組合離子源與GC結合使用，可以進行以下分析：
• GC / EI通過圖書館檢索進行定性分析
• GC / FI用于分子量測定
• 精確的質量測量
FI和FD?確定分子量的理想軟電離技術
FI和FD是極軟性的游離化技術，與EI甚至CI相比較，提供分析物的能量更低，從而產生清晰的分子離子。
FI（場離子化）
• 樣品通過GC或標準樣品入口系統引入離子源。
• 與CI不同，FI不使用反應氣。
• 無需選擇適合分析物的反應氣。
FD（場脫附）
• 樣品被施加到發射器上并直接引入系統中。
• 適用于熱不穩定化合物的分析。
• 非常適合可溶于非極性溶劑的樣品。
• 分析可分散在溶劑中的粉末樣品。
• 分析低至中極性的金屬錯合物。
• 分析GC-MS不支持的高分子量樣品，例如聚合物。
PI（光離子源）?EI / PI組合離子源
PI是一種軟性游離方法，使用真空紫外（VUV）燈的光子進行電離。 AccuTOF™GC-Alpha具有可選的組合離子源，可同時提供EI（硬性游離源）和PI（軟性游離源）。 通過簡單地打開/關閉EI燈絲和PI燈，此離子源就可以在EI和PI之間進行切換。
PI非常適合分析復雜混合物中的芳族化合物。 這些化合物強烈吸收UV光產生高強度峰。
關鍵技術二：新一代分析軟件可實現簡單，快速的操作
■ 自動化圖譜分析軟件：MsFineAnalysis
MsFineAnalysis為非特定目標(non-target)分析軟件，結合EI / SI圖譜數據進行定性分析，自動完成數據庫比對、分子離子確認、精確質量、同位素分析、碎片離子比對等分析，提供了快速有效的數據分析，可以輕松地對未知化合物以及未在EI質譜庫中注冊的化合物進行定性分析，使用戶大量減少分析數據的時間，而將更多的時間用于研究和創造！
可以直接比較兩個相似的樣本進行差異分析，對于制程管控、質量管理、競品比對具有強大的分析功能！
msFineAnalysis的功能
• 自動結合EI / SI圖譜數據進行定性分析
• 層析峰反折積(deconvolution)
• 組別分析提取具有常見次結構的化合物
• 直接比較兩個樣品光譜差異分析
• 亦可對單一EI圖譜數據進行分析
• 層析峰反折積(deconvolution)
• 組別分析提取具有常見次結構的化合物
• 直接比較兩個樣品光譜差異分析
• 亦可對單一EI圖譜數據進行分析
■ AccuTOF™GC-Alpha不只是GC-TOFMS，更是直接進樣的Direct MS
直接MS模式（不使用GC）可用于分析不適用于GC的高沸點和高質量化合物，可以將高沸點、高分子量和非揮發性化合物直接引入離子源中。AccuTOF™GC-Alpha的質量范圍為m / z 6,000或更高質量范圍，因此可運用在大分子量化合物分析應用。
直接MS模式（不使用GC）可用于分析不適用于GC的高沸點和高質量化合物，可以將高沸點、高分子量和非揮發性化合物直接引入離子源中。AccuTOF™GC-Alpha的質量范圍為m / z 6,000或更高質量范圍，因此可運用在大分子量化合物分析應用。
? DEP (Direct Exposure Probe)
• 將溶解或分散在溶劑中的樣品添加到的細絲上
• 適用于高沸點和/或熱不穩定化合物
• 與EI和CI兼容使用
? DIP (Direct 
Insertion Probe)
• 可以將固體樣品引入玻璃樣品管中。
• 適用于高沸點和/或不溶性化合物
• 與EI和CI兼容使用
? FDP (Field Desorption Probe)• 將溶解或分散在溶劑中的樣品施加到的碳發射器上。
• 適用于高沸點，高分子量和/或熱不穩定的化合物
• 適用于中低極性金屬配合物
• 用于FD軟性游離法
■ 通過FD探頭和Kendrick質量缺陷（KMD）分析進行聚合物分析
FD是一種電離方法，添加在發射器化合物會被高電場解吸并電離。 在測量過程中，流經發射器的電流可逐漸增加，因此可以在不同時間下，解離混合物中的成分，提取特定類別化合物的質譜。 此外，即使在電離過程中化合物未及時分離時，通過創建KMD圖仍可以清楚地分離目標化合物。
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| Ion Source | Electron Ionization |
| Analyzer | Reflectron Time-of-Flight Mass Spectrometer |
| Detector | Dual Micro Channel Plate |
| Data Acquisition System | Continuous Averager |
| Gas Chromatograph | Agilent 8890 |
| Data System | Included |
| Major Options | EI/FI/FD combination ion source EI/PI combination ion source CI ion source FD/FI ion source DIP DEP |
| Speed Data Acquisition | 50 Hz |
| Mass Range | ~m/z 6,000 |
| Instrument Detection Limit | IDL=18.7 fg |
| Dynamic Range | 4 orders |
| High Mass Accuracy | 1 ppm |
| Mass Resolving Power | 30,000 |
? 未知物定性、定量分析
? 高分子材料、聚合物分析(單體、添加劑、寡聚物)
? 競爭品分析、競爭品比對
? 未登入化學物質定性
? 質量管理、異常品比對
? GCXGC應用、生物標記應用
? FAST GC應用
? 食品檢驗、油品分析
? 石化產業
? 有機合成
? 環境分析
? 代謝物分析
? 有機金屬分析
? 香料分析
? 高分子材料、聚合物分析(單體、添加劑、寡聚物)
? 競爭品分析、競爭品比對
? 未登入化學物質定性
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