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ISS 快速熒光壽命成像系統FLIM/FCS 顯微鏡

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產品簡介

ISS 快速熒光壽命成像系統FLIM/FCS

詳細介紹

基于激光共焦掃描顯微系統--熒光成像、熒光強度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像

　　新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統，提供單分子級的靈敏度，檢測波長標準配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學、納米、能源、生物等學科方向，單分子動態(tài)、活細胞、微區(qū)成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究，測試速度高達5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī)，批量熒光壽命成像數據處理進入直讀時代；振鏡掃描適于所有時間尺度的壽命成像。活細胞工作站、變溫測試可選用；

主要功能描述：

激光共焦熒光強度成像LCM；

熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；

上轉換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；

熒光波動成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；

單量子點發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉移成像，包括交替激發(fā)PIE成像；

穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；

微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像；

反聚束測試；

　　Prof. Joseph R. Lakowicz 實驗室選擇的FLIM系統

　　數字頻域技術DFD-FLIM （FastFLIM）和時域技術TD-FLIM （TCSPC）成像技術；

　　實時直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢，FRET效率分布；