全反射X熒光光譜儀分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。

HORIZON 配備了12位樣品臺自動測量，創新光學編碼器的步進電機，角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應用在環境分析、制藥分析、法醫學、化學純度分析、油品分析、染料分析、半導體材料及核材料工業分析領域。

全反射X熒光光譜儀主要特點
■ 單內標校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
■ 對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析；
■ 多元素實時分析，可進行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應用需求影響；
■ *的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 的動態線性范圍；
■ 無需任何化學前處理，無記憶效應；
■ 非破壞性分析，運行成本低廉。