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納米粒度及Zeta電位分析儀

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產品型號Nanolink SZ901

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更新時間：2022-09-15 10:14:14瀏覽次數：300次

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珠海真理光學儀器有限公司

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產品簡介

Nanolink SZ901為新一代納米粒度和Zeta電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，主要應用于樣品的顆粒表征及樣品體系穩定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。

詳細介紹

Nanolink SZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的顆粒表征及樣品體系穩定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特點包括：

◆ 經典90°動態光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

◆ 激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可準確預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性

◆ 加持自動恒溫技術的zui大功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

◆ 自研的余弦擬合法（CFLS）優于目前的頻譜分析法（FFT）和位相分析法（PALS）

◆ 自研的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術

◆ 自研的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術

◆ 集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

◆ 常規溫度控制范圍可達0°C - 90°C,zui高可選120°C, 精度±0.1°C

◆ 新一代高速數字相關器，動態范圍大于1011

◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術

注：* 取決于樣品及樣品池選件

主要技術參數

測量原理	動態光散射（DLS）、靜態光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°
粒徑測量范圍	0.3nm -15μm*
粒徑準確度	優于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品）
粒徑重復性	優于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標準樣品）
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量最小樣品量	3ul*
Zeta電位測量范圍	-600mV - +600mV
Zui大電導率	270mS/cm
適用Zeta電位測量的粒徑	3nm – 100μm*
電導率準確度	±10%
分子量范圍	340Da-2 x 10⁷Da
溫度控制范圍	0°C - 90°C (120°C可選)
溫度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒溫系統及光纖耦合的Zui大功率50mW, 波長638nm固體激光器
相關器	高速數字相關器，自適應通道配置
檢測器	高靈敏度APD
系統重量	17kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）