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偏光顯微鏡

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更新時間：2022-08-22 15:38:48瀏覽次數：457次

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產品簡介

觀察對像	其他	光源類型	其他
目數	雙目

偏光顯微鏡雙目觀察筒采用了調瞳間距時目鏡的十字線標度不會傾斜的機構。可以正確的配合偏振光的振動方向。

詳細介紹

操作簡便，能進行正規偏振光觀察的小型型號
形體小，能執行正規偏振光觀察和多種延遲測量。容易攜帶，形體小，無需選擇使用場地可靈活運用。專門設計的聚光鏡和偏振光濾鏡，大大增強了偏振光圖像。
＊EF值：平行尼科爾和正交尼科爾的亮度比率，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
操作點集中的小型正像鏡／錐光鏡觀察用中間鏡筒

偏光顯微鏡通過插入或拔出勃氏透鏡切換正像鏡和錐光鏡，以及錐光鏡圖像的對焦、分析儀的裝卸和旋轉、任意角度定位等各種操作都能夠集中進行。

防止影像不穩定的高度剛性機架

機體內部的對焦調節機構、載物臺支撐等各部分的完善化確保了高度剛性，由此帶來的*光學性能提升了基本性能。與此同時，帶刻度尺的旋轉載物臺實現了高耐久性。
調整瞳間距時十字線也不會傾斜的雙目觀察筒

偏光顯微鏡雙目觀察筒采用了調瞳間距時目鏡的十字線標度不會傾斜的機構。可以正確的配合偏振光的振動方向。
對應高級偏振光觀察的附件精密調芯結構

帶有雙向調芯旋鈕的圓形旋轉載物臺,可以輕松調芯。旋轉子阿物臺的每45度位置有定位扣，使得在正確方向觀察、測量。可以安裝復式機械載物臺

復式機械載物臺	可以安裝容易移動樣品的復式機械載物臺。
物鏡中心輸出適配器	我們為您準備了對應嚴密的偏振光觀察的物鏡調芯適配器。

各種補償板的延遲測量范圍

補償板	測量范圍	主要用途
U-CTB厚型Berek	0-11,000nm	較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結晶、高分子、纖維、光彈性失真等）
U-CBE Berek	0-1,640nm	延遲測量（結晶、高分子、纖維、生物體組織等）
U-CSE Senarmont	0-546nm	延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ	0-55nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ	0-20nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CWE2 石英楔子	500-2,200nm	延遲的近似測量（結晶、高分子等）