陳霞
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日本advance riko熱電特性評價儀ZEM-3系列
這是一種同時測量熱電材料的熱電率（塞貝克系數）和電導率的裝置。我們準備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器，操作簡單。
半導體，陶瓷，金屬等廣泛材料的熱電特性評價。
采用溫度可控性優異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測量由計算機控制，可以在規定溫度下對各溫差進行測量，也可以消除暗電動勢等自動測量
標配自動歐姆接觸檢查（V-I圖）
可選附件可用于測量薄膜
可定制為高電阻
熱電能JIS R 1650-1
電阻率JIS R 1650-2
| 型式 | ZEM-3L | ZEM-3LW | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 | ZEM-3HR |
|---|---|---|---|---|---|
| 溫度設定范圍 | 最大測量溫度步長和溫差步長125 | ||||
| 溫度范圍 | -80?100℃ | －100?200℃ | 50?800℃ | 50?1000℃ | 50～800℃/1000℃ |
| 樣品尺寸 | 角或，φ2～4mm×長5～22mm | ||||
| 測量氣氛 | 低壓He氣體中（大氣中） | ||||
| 電阻測量范圍* | 50μΩ～ 100kΩ | 50μΩ～ 10MΩ | |||
*由于材料的質量和與熱電偶探頭的接觸，測量范圍可能會發生變化。
提供數據:工業科學技術研究所能源技術研究部熱電轉換小組
日本advance riko熱電特性評價儀ZEM-3系列
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