陳霞
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日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
消除測量者的偏差舒適，準確地測量1μm或更小的超薄膜
* 1線性度是
顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。 位移量
為±0.2％
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
（測量誤差因位移量而異）
* 2根據被測物體的材質，測量范圍可能會改變。
*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產而停產。HKT-1216將替代HKT-1240。
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