TSI-2

基本表現

測量目標

樣品缺陷，異質性，紅外輻射亮度，簡單的溫度，熱特性

輸出數據

頻率，距離，幅度，相位，亮度，圖像數據

分析模式

點/區域分析，相位分析

附加其他

溫度調制加熱器，控制/分析軟件，PC

測量環境

溫度

室溫?250 [℃]

測量頻率

0.1-10 [Hz]

紅外攝像機

元素數

336 x 256

元素類型

VOx微測輻射熱儀

像素大小

17 [微米]

觀察波段

7.5至13.5 [μm]

幀率

30 [Hz]

解析度

約30 [μm]

半導體激光器（連續振蕩）

波長

808 [納米]

z大輸出

5 [W]

正弦波調制

0.1至30 [Hz]

舞臺動作范圍

水平（XY軸）方向

±15 [毫米]

垂直（Z軸）方向

+50 [mm]

電源

AC100-240 [V]，10-5 [A]，50/60 [Hz]

設備主體

外形尺寸

寬552 x深602 x高657 [mm]

重量

76.5 [公斤]

激光安全標準

CLASS1，IEC / EN 60825-1：2007