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深圳市熒鴻科技有限公司
產品簡介:桌面式 黃綠光/白光
Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈SL8500系列簡介
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500系列是一款黃綠光表面檢查燈(或者是白光),檢測燈的原理利用適合的LED燈源,通過光學鏡片折射出特殊波長的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點,取代傳統的照明設備和光學系統機臺,直接通過照明光線和肉眼,觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,極大的節省了一般工廠的采購成本。 SL8500-GY黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光,來做與明確的判別,可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光,幾乎可檢測出所有塵埃,大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達15萬LX,最小可以檢測1μ的表面臟污,比傳統的檢查燈,效用增強10倍.。(注意:SL8500系列檢查燈的亮度只有15萬LX ;如果有更高的測試要求請使用SL8900和SL8600系列的檢查燈,SL8600亮度有30萬LX,SL8900的亮度是40萬LX)(底部有視頻講解)。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500參數規格
型號:SL8500-GY高照度晶圓LED檢查燈;晶圓顆粒缺陷檢查燈;Wafer表面檢查燈
光 源:20W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片; LED平均壽命是30000小時
照度:距離40cm → 9萬lx;距離30cm → 15萬 lx(我們掌握了核心技術,我們可以提供不同照度的平行燈,它們可滿足不同客戶的要求)
照射面積: 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離(通過調焦距調光)
調光方式: 無極調光:從0% ~ 99%;消耗功率:20 W
電源:采用110-220V電源供電(交流供電),可以24小時持續無間斷工作。
平行光強的穩定性: > 90 %
產品尺寸:53 * 220mm; 凈重: 0.53KG(不含配件
產品型號 | SL8500-W白光晶圓檢查燈 | SL8500-GY黃綠光晶圓檢查燈 | 備注 |
LED的數量和規格 | 1個進口20W 6000K LED 加定制的光學透鏡和定制濾光片 | 可以按照客戶的要求定制 | |
通常6000K白光,510-590NM黃綠光;有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波長 | |||
檢查燈的波長 | 6000K 白光 | 510-600NM黃綠光 | |
檢查燈的亮度 | 8萬LX→距離40cm; 15萬LX→距離30cm; | 9萬LX→距離40cm; 15萬LX→距離30cm; | |
我們掌握了核心技術,我們可以 提供不同照度的檢查燈,它們可滿足不同客戶的要求 | |||
照射面積(單位MM) | ? 8- 16cm 在40cm的距離 | ||
調光方式 | 無極調光:通過調光器0-99%調光; | ||
使用壽命 | 30000小時 | ||
尺寸和凈重 | 53 *220mm; 凈量:1180克不包含配件 | ||
可選配件 | 防護眼鏡 |
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500特點
1.1個大功率20W LED,.真正冷光源,亮度達到15萬LX;照度相當100瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達3萬個小時;壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學透鏡和濾光片,檢查燈的均勻性能達到90%以上;
產品的光均勻性及光斑大小,經檢測證實效果要優于日、德同類產品。
4.發黃綠光和白光,人眼易感知且又不傷眼,可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外觀設計,,能提供均勻且高亮度特殊波長和色溫的檢查光源;
6:可選擇不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波;
白光:刮傷以及對不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光:微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光:微刻模具、半導體晶圓、藍寶石。對鍍膜檢查效果不錯。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500應用
LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、 玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查、 液晶玻璃、微刻模具、半導體晶圓、藍寶石
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