HemiView植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。
用途：HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等

詳細介紹

特點：

·交互式圖示定位工具：精準記錄的圖像半球縱坐標系統(tǒng)。補償磁場偏差；

·支持圖像分類：強度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類；

·圖像可多重和拆分查看：分類和色彩/灰色等比率查看，或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽；

·圖像底片：圖像可轉換為底片模式進行查看和分析；

·可給不同的天空區(qū)域定義號碼：天頂角和方位角定義范圍；

·單個樹的葉面積：直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI；

·分析局部圖像：可以將圖像中不需要參與分析的部分排除；

·地點，鏡頭和太陽模型的參數(shù)：用戶可設定地點，鏡頭和太陽模式應用到任何一個圖像中，方便從列表中選擇；

·定義鏡頭的特點：鏡頭方程是當用戶使用了當前鏡頭和老款類型提供的ΔT；

·輸出：分析結果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式；

·自定義輸出參數(shù)：用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。

輸出參數(shù)：

天空幾何	質(zhì)心，立體角和像素計算用于每個天空扇區(qū)
間隙粒級	比例的可見天空扇區(qū)
葉面積指數(shù)	天空扇區(qū)或全部數(shù)值
太陽輻射	直射和散射，冠層上方和下方，能量或質(zhì)量單位
位置因數(shù)	直接，間接（散射），全部
時間序列和光斑	可查看日期的日盤（半陰影作用）和太陽輻射，用戶自定義的采樣間隔時間或光斑順序
可選余弦修正	可用任何方位的截取表面
全部數(shù)值	大部分輸出能將天空扇區(qū)表格化，集合到單個全天空或年數(shù)值中